| 利用光学显微镜图片判断石墨烯层数与厚度的方法 |
| CN201210327931.3 2012-9-7 发明申请 |
| 2013-1-2 |
| 本发明涉及一种利用光学显微镜图片判断石墨烯厚度和层数的方法。它是利用光学显微镜拍下石墨烯在衬底上的光学图片，利用软件将图片的R, G, B三色的刺激值提取出来; 将石墨烯样品上的刺激值与衬底的刺激值进行比较，得出对比度值C=(刺激值衬底-刺激值石墨烯)/刺激值衬底; 最后将该对比度值与理论计算获得的对比度值C0进行比较，可以精确地判断石墨烯的层数及厚度。此方法具有操作简单、效率高、成本低、误差小，且可以用于判断不同衬底上不同方法制备的石墨烯的厚度，另外还可以判断其他二维纳米薄膜材料的厚度等优势。 |
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