| 扫描探针显微镜具有与纳米粒子探针和校准的方法，其 |
| KR1020110045530 2011-5-16 发明申请 |
| 2012-11-26 |
| 目的 : 一种扫描探针显微镜具有一个与纳米粒子探针和一种校准方法，其被设置，以提高测量通过使用一种piezolever连接可靠性与一惠斯登桥，以精确地定义一个系数的弹性。 构成 : 一个探针(113)是一个悬臂检测器(110)中制备的。纳米颗粒(113a)被粘附到所述端部的所述探针。一个样品之间的间隙和所述探针是由要通过使用图像中所述纳米粒子均匀该样品的扫描。一种piezolever(101)是连接与一个惠斯登桥(103)用于计算电阻和所述piezolever确定的弯曲。< BR > 版权 kipo 2013 < BR > |
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