| 显微镜装置 |
| JP2011084351 2011-4-6 发明申请 |
| 2012-11-12 |
| 要解决的问题是提供一种允许外部相位差观察并且能够缩短光学系统全长的显微镜装置。 解决方案：显微镜装置10包括：光源1； 具有孔径2a的膜片2； 聚光透镜3，用于使来自该孔2a的光基本平行并将基本平行的光发射到样品H； 物镜4，用于对通过样品H的光进行成像； 布置在样品H的主像面F3上的第一微透镜阵列5； 以及第二微透镜阵列6，布置在该第一微透镜阵列5的像侧，并且在与物镜4的出射光瞳表面共轭的表面F4上。 第二微透镜阵列6构成为，由分割从第一微透镜阵列5的各单元透镜5a射出的光束的多个单元透镜6a形成的单元透镜组6b二维地排列。 另外，位于与光阑2的孔径2a共辄的每个该单元透镜组6b的单元透镜6a设置有相位膜。 版权：(C)2013年，JPO&INPIT |
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