| 显微镜装置，观察方法，和样品加载机构 |
| JP2011069093 2011-3-28 发明申请 |
| 2012-10-22 |
| 要解决的问题 : 以获得一高分辨率的图像通过简单的光学调整和算术处理的样品和使观察，以允许该程度的自由度在所述的光学轴方向。溶液 : 一个根据本发明的显微镜装置1包括 : 一个灯的光源2用于产生激励光EL，其具有一致性和激发样品S; 一个成像器12用于检测返回光RL，它表现出荧光当所述激励光的EL被发射到该样品S; 一物镜透镜8用于使所述激励光的EL入射在所述样品S作为平行光; 和一个样品加载部9配置成使得一反射表面9a，其产生反射的光用于干扰与所述激励光的EL由入射从所述物镜透镜8在直，所述的范围内设置所述所述物镜的焦距f透镜8和所述样品S被加载一反射表面9a上。在所述激励光的EL，产生一个驻波是通过使直的光并反射的光干涉与每个其它。还，该返回光中的RL，直引起的光并反射的光被以与每个其它干扰。这使得它可能以增加分辨率，以获得一个高-分辨率图像。版权 : (C)2013，inpit |
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