| 受激发射损耗(STED)显微镜检查系统 |
| CN201180005876.X 2011-1-13 发明申请 |
| 2012-10-3 |
| 本发明公开了一种用于对对象(O)进行受激发射损耗(STED)的光学显微镜检查系统(10)。应用光学元件(6)将第一激励射束(1)和第二损耗(2)射束聚焦到对象上，由此界定针对第一射束和第二射束两者的公共光学路径(OP)。在公共光学路径(OP)中插入相位修改构件(5)，所述相位修改构件以光学方式被布置成用于使所述第一射束的波前基本不变，并改变所述第二射束(2')的波前，以便在所述对象中生成未损耗的感兴趣区域(ROI)。第一射束和第二射束具有公共光学路径，因为相位修改构件调整波前或相位，使其对第一射束没有影响，而给第二射束带来波前或相位变化，从而在焦平面处在对象中获得损耗区域(例如，成为环形斑)。本发明便于STED显微镜检查的更小和/或改进型光学设计；这对于医学活体内成像(例如内窥镜和导管)尤其相关。 |
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