| 原子力显微镜的力示踪方法 |
| CN201210146642.3 2012-5-11 发明申请 |
| 2012-9-12 |
| 原子力显微镜的力示踪方法，涉及微观力测量方法技术领域，解决了现有的AFM单分子力谱法检测到的力信号容易被认为是AFM探针本身运动产生的而不是细胞表面上的动态过程产生的问题。原子力显微镜的力示踪方法，在反馈调节系统的控制下完成进针后，关闭反馈调节系统，通过得到的力-距离曲线确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置；AFM探针逐渐逼近被测物表面，当AFM探针和被测物表面刚好接触时，关闭反馈调节系统并停止进针，微悬臂随即发生偏转；利用数据采集卡采集微悬臂偏转随时间变化关系。本发明避免了压电陶瓷扫描器驱动AFM探针在Z方向的运动对被测物表面动态过程研究的影响。 |
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