| 全内反射荧光显微镜色差校正系统 |
| US13338664 2011-12-28 发明申请 |
| 2012-7-12 |
| 描述了可结合在基于物镜的TIRF显微镜仪器中以校正色差的校正元件。 校正元件可以放置在多波长激励光束源和显微镜物镜之间。 在一个方面，所述校正元件的厚度被限定为补偿与沿着包括显微镜物镜的透镜的外边缘行进的每个激励波长相关联的焦点的不同轴向位置。 在另一个方面，校正元件可以成角度和/或配置成使得多波长激发光的不同波长被偏移，以调节样品/衬底界面处的每个波长的入射角。在另一个方面，校正元件可以成角度和/或配置成使得多波长激发光的不同波长被偏移，以调节样品/衬底界面处的每个波长的入射角。 |
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