| 显微镜谱仪，光学轴线偏移校正装置，使用相同的分光镜和显微镜 |
| WOJP11072771 2011-10-3 发明申请 |
| 2012-5-31 |
| 一种显微镜散射光谱仪用于分析由一样品发出的光，所述的光被入射到所述的显微镜，当激励从一光源的光被引导到所述样品，是提供具有 : 第第一光学装置，用于聚焦该散射的光成平行光束; 第第一可变带通滤波器装置具有一个可变的发射波长范围在其入射光被允许以被穿透，和通过其中，所述入射的散射的光，其具有被聚焦成平行光束，光在所述预定发射波长范围被发送; 一个两维阵列的光检测装置，用于形成所述发射波长范围为图像中所散射的光; 和一个用于控制所述图像的所述定时控制装置的所述两维阵列的光检测装置，以及用于改变所发射的波长范围第一中的可变带通滤波器装置根据与所述定时。 |
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