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| - 测试过程与管脚结构的相互作用
- 作者：李兴鸿;赵俊萍;王勇;方测宝;黄鑫; 来源期刊：环境技术 年卷号：2017,35(05):58-61
- 摘要：本文从数字CMOS集成电路的I/O结构、全ESD防护结构、自动测试设备的PMU、恒压源恒流源的原理出发,综合分析了功能测试及PMU测试过程中加压测流和加流测压与IC输入、输出、三态及双向管脚的相互作用,给出了一些测试过程对IC造成影响的可能
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- 基于信号完整性与电源完整性的PCB电磁兼容协同仿真方法研究
- 作者：陈放;田建宇;孙兆牛;王雨萌; 来源期刊：航天控制 年卷号：2017,35(04):90-94
- 摘要：针对日益复杂的电子设备电磁兼容设计,提出基于信号完整性与电源完整性的PCB电磁兼容协同仿真方法。在实际仿真应用中,使用PCB电磁兼容协同仿真方法从降低电源平面阻抗、优化信号质量及降低整板辐射等方面对某运载火箭综合控制器主机板PCB进行仿真优
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- CMOS数字IC三态输出管脚漏电路径分析
- 作者：李兴鸿;赵俊萍;王勇;方测宝;黄鑫; 来源期刊：环境技术 年卷号：2017,35(04):80-82
- 摘要：本文从双电源电压三态输出电路原理结构图出发,列出了引起VOL、VOH、IOZH、IOZL失效的可能原因,通过估算指出引起高阻高电平漏电失效而其它功能参数都正常的失效模式的失效位置为输出NMOS管的驱动级的PMOS管漏电所致。
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- Sigma Designs公司将推出HDR 10+标准STV 7803_4 UHD HDR芯片组
- 作者：本刊讯; 来源期刊：电子产品可靠性与环境试验 年卷号：2017,35(04):24
- 摘要：美国Sigma Designs,Inc.公司是一家智能电视平台和智能家居物联网(Io T)设备的行业领先供应商,其致力于设计与构建重要的半导体技术,促进智能家居技术融合,重新塑造了电视、智能手机、穿戴式装置、平板电脑、数码产品、网络系统和内
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- PCBA失效原因分析
- 作者：王新娟;饶丹丹; 来源期刊：电子产品可靠性与环境试验 年卷号：2017,35(03):7-13
- 摘要：对长期在沿海地区使用的某电表的PCBA上的部分元器件出现腐蚀现象的原因进行了分析,通过分析发现,该PCBA上的部分元器件被腐蚀是由于三防工艺不当、电化学腐蚀、银迁移和卤素污染造成的。对各种失效现象的机理进行了详细的解释,并提出了相应的改进意
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