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| - 基于开关电容阵列ASIC芯片的多通道波形数字化系统设计
- 作者：鲁一鸣;赵雷;秦家军;邓佩佩;刘树彬;安... 来源期刊：原子核物理评论 年卷号：2017,34(04):755-761
- 摘要：基于开关电容阵列(SCA)技术可以实现超高速的波形数字化。本研究是基于实验室设计完成的FEL SCA芯片进行8通道2 Gsps的波形数字化模块的设计,电路的配置和读出控制功能集成在单个FPGA中完成,此外该模块还包含SDRAM缓存及USB接
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- 非接触智能卡的研究和测试
- 作者：钱鸣镝; 来源期刊：集成电路应用 年卷号：2017,34(04):68-73
- 摘要：智能卡投入商用前所进行的一系列测试项目显得尤为重要。针对智能卡的测试,有一系列的国际行业标准,针对其特点和应用范围,对卡片规格和性能做出了严格的规定[1-2]。作者除了对非接触性智能卡从应用技术、发展、工作原理做了比较全面的研究,还针对一款
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- 掩模板设计的信息提取自动化方法
- 作者：周京英; 来源期刊：集成电路应用 年卷号：2017,34(04):58-61
- 摘要：要提高掩模板设计的效率和准确率,实现信息提取的自动化是关键。从芯片代工厂(Foundry)的掩模板设计标准流程出发,对于各步骤涉及的各类信息如何进行自动化处理,对于如何使用程序实现信息的系统化进行描述。
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- CMOS电路中的漏电失效分析
- 作者：马香柏; 来源期刊：集成电路应用 年卷号：2017,34(04):53-57
- 摘要：在嵌入式存储器以及Logic、Analog等CMOS工艺中,漏电失效分析技术广泛应用。这里介绍了漏电失效分析流程、CMOS电路中的漏电测试项目、漏电失效分析工具,并通过具体案例,对漏电失效分析在CMOS工艺良率提升以及新产品导入上的应用作了
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- 基于LUT的ATPG算法研究
- 作者：王志远;李彩虹;何安平; 来源期刊：微电子学与计算机 年卷号：2017,34(04):44-48
- 摘要：随着科学技术尤其是半导体工艺与通信技术的快速发展,FPGA技术日趋成熟,采用FPGA的设计愈加广泛.随着系统设计的复杂化,其FPGA的验证在整个开发周期中占据的比重越来越大.针对以上背景,本文采用系统功能验证中常用的自动测试模式生成(ATP
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