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| - 嵌入广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案
- 作者：詹文法;吴琼;程一飞;吴海峰; 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2017,29(08):1542-1548
- 摘要：针对芯片测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间的问题,提出一种广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案.首先构建有向图,将完全测试集映射到有向图中;其次查找有向图中最长路径,将完全测试集分割成若干个
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- 中国高校集成电路布图设计的现状分析
- 作者：季春;苏晓云;吴铮悦; 来源期刊：农业图书情报学刊 年卷号：2017,29(07):155-157
- 摘要：对中国高校的集成电路布图设计登记量进行了统计与分析,总结了存在的问题,并提出了促进高校开展集成电路布图设计研究的建议。
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- 基于代码转换的Zynq-SoC高级综合优化方法
- 作者：马磊;刘强;徐松; 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2017,29(07):1372-1379
- 摘要：为了提高基于FPGA平台的SoC设计方案的开发速度和运行性能,提出一种基于高层次代码转换的高级综合优化方法.首先将高级语言算法进行软硬件划分,确定在硬件上执行的部分;然后针对在硬件上执行的算法部分,通过代码转换去除函数间数据依赖性、提高循环
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- 考虑预采样的时序错误检测与自恢复方法
- 作者：郑旭光;梁华国;易茂祥;蒋翠云;范磊;欧... 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2017,29(07):1365-1371
- 摘要：集成电路老化效应会导致组合电路关键路径时延增加,不满足电路时序约束条件,从而引起时序错误,使得电路功能失效.为此,提出一种基于预采样的时序错误检测与自恢复方法,并设计了一个检测与纠错结构.首先利用系统本身时钟在时钟有效沿前后构建一个预采样区
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- 暗硅多核系统芯片资源调度算法
- 作者：孙奥林;徐奇;陈松; 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2017,29(06):1145-1154
- 摘要：芯片集成度的提升芯片带来功耗密度的增加,引起芯片的过热问题.近年来,人们提出暗硅设计的概念,有选择地关闭部分工作模块,避免芯片上所有模块同时处于开启状态,以解决过热问题.为此,提出一种基于模拟退火的多核系统资源调度算法.针对具体的应用采用迭
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