|
| - 联用动态EMMI与FIB的集成电路失效分析
- 作者：陈选龙;刘丽媛;黎恩良;王宏芹; 来源期刊：微电子学 年卷号：2017,47(02):285-288+292
- 摘要：EMMI被广泛应用于集成电路的失效分析和机理判定。针对端口I-V特性曲线的异常现象,采用静态电流的发光效应对漏电点进行光发射定位。静态电流法无法全面测试集成电路内部逻辑单元,需要使用动态信号驱动集成电路,使内部失效部位能够产生光发射。对样品
-
- Radio-Frequency Characteristics of Partial Dielect...
- 作者：程实;常永伟;高楠;董业民;费璐;魏星;... 来源期刊：Chinese Physics Letters 年卷号：2017,47(02):268-273
- 摘要：High-resistivity silicon-on-insulator(HR-SOI) and trap-rich high-resistivity silicon-on-insulator(TR-SOI) substrates hav
-
- 基于时间数字转换的硅通孔绑定前测试方法
- 作者：常郝;周万怀;赵涛;殷仕淑; 来源期刊：中国科学:信息科学 年卷号：2017,47(02):260-274
- 摘要：硅通孔中的缺陷不仅会导致硅通孔网络中传输延迟变化,也会引起对故障更为敏感的跳变延迟波动.本文基于时间数字转换原理提出一种非侵入式、皮秒级精度的绑定前硅通孔测试方法来检测电阻开路故障和泄漏故障.把硅通孔看作是驱动门的容性负载,遍历环状缩减单元
-
- 硬件木马技术研究进展
- 作者：尹勇生;汪涛;陈红梅;邓红辉; 来源期刊：微电子学 年卷号：2017,47(02):233-238
- 摘要：通常存在于应用软件、操作系统中的信息安全问题正在向硬件蔓延。硬件木马是集成电路芯片从研发设计、生产制造到封装测试的整个生命周期内被植入的恶意电路,一经诱发,将带来各种非预期的行为,造成重大危害。当前,SoC芯片大量复用IP核,意味着将有更多
-
- 电流型网格多涡卷混沌电路的设计与实现
- 作者：王雅丽;李志军;马铭磷;王梦蛟; 来源期刊：微电子学 年卷号：2017,47(02):226-232
- 摘要：以电流为状态变量,提出了一种基于电流传输器的电流模式网格多涡卷混沌电路。该电路由电流积分器、电流比例运算电路和电流模式阶梯波序列电路构成。相对于传统的电压模式混沌电路,该电流模式多涡卷混沌电路具有宽频谱、低功耗和便于集成等优点。通过改变系统
-
|