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| - 基于LC1860 SDR平台的波形设计和优化
- 作者：屠新雅; 来源期刊：科技视界 年卷号：2017,(09):280+283
- 摘要：LC1860平台芯片作为国产化芯片的代表,其架构和配置与目前移动通信领域主流的2G\3G\4G标准具有绑定关系,因而该芯片在通用性方面具有一定的限制。本文从该芯片的架构和软件模块部署出发,针对该平台通信处理单元的数据处理性能、存储空间和硬件
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- 实时测试波形采显技术的研究
- 作者：尚磊;李杰; 来源期刊：电子测试 年卷号：2017,(09):27-28+24
- 摘要：介绍了两种传统等效采样的意义、原理和方法,指出其局限性,在精准测量上存在难度并分析了其原因,提出了实时测试波形采显技术的研究,通过找准跳变点及时间延两方面,结合芯片电学性能和结构特点,快速开发出芯片的测试程序。
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- 新型非接触式微液滴点样喷头的研制
- 作者：赵启焱;尤晖;郑敏捷;黄哲; 来源期刊：仪表技术 年卷号：2017,(09):26-29
- 摘要：微阵列芯片在基因检测等领域有着广泛的应用,制备微阵列芯片的的点样设备可分为接触式和非接触式两种,其中接触式点样需要频繁的清洗点样针头,非接触式点样设备则需要外界气泵或使用复杂的MEMS工艺制作。为了简化生物微阵列芯片制作过程中繁琐的取样、点
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- MiniSKiiP——20年来引领未来
- 作者： 来源期刊：变频器世界 年卷号：2017,(09):25
- 摘要：20年前,MiniSKiiP诞生。一种独特的设计为电力电子领域树立了新标准:使用弹簧连接的免焊接PCB组装,最小化装配时间、简化PCB设计和提供出色的连接可靠性,从而快速带来系统成本效益。MiniSKiiP模块的现场应用量超过3500万件,
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- 集成电路的ESD防护技术分析
- 作者：何晓婵; 来源期刊：数字技术与应用 年卷号：2017,(09):231-232
- 摘要：ESD是静电放电的英文缩写,ESD现象是生产与制造集成电路过程中较为普遍的现象,这一现象会直接缩短集成电路使用寿命,降低其使用性能。本文从集成电路ESD现象成因入手,研究分析了集成电路ESD的防护器件以及需要使用的防护技术。
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