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| - 聚焦集成电路核心装备用精密碳化硅结构件
- 作者：胡传奇; 来源期刊：中国建材 年卷号：2017,(07):116-117
- 摘要：集成电路产业(即IC产业)是关乎国家经济、政治和国防安全的战略产业,在IC产业中,集成电路核心装备具有极其重要的战略地位。自20世纪90年代起,国家"十五""十一五""十二五"发展规划中均将光刻机等集成电路核心装备列入国家科技重大专项。在集
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- 当前微电子学与集成电路解析
- 作者：胥亦实; 来源期刊：电子技术与软件工程 年卷号：2017,(07):111
- 摘要：微电子学属于电子学的分支学科,以半导体为主要对象,形成微小型电路和系统等。而集成电路属于微型电子器件,将各类元件通过合理的布线方式,成为一个具备完整电路功能的结构。微电子学与集成电路直接关系到相关高新产业的发展和进步。展开对微电子学与集成电
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- 蛋白质芯片检测系统设计
- 作者：吴沣恒; 来源期刊：信息与电脑(理论版) 年卷号：2017,(07):110-111+114
- 摘要：生活中常见的物质都会发射或反射出光谱,光谱分析就是依据某一种物质成分对电磁波的吸收和反射特性而进行的定性、定量分析。为了提高光谱分析的精准度,必须采取行之有效的方法对获取的原始信号进行相应的预处理。笔者基于市场应用对光谱仪模块化与一体化的要
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- 采用电编程熔丝调节芯片参数的测试流程
- 作者：王帆; 来源期刊：电子技术与软件工程 年卷号：2017,(07):108
- 摘要：利用电子的迁移特性可以生成一种微小的熔丝结构,这种熔丝结构称为电编程熔丝eFUSE,可以在芯片上编程。为了提高芯片测试的准确性并降低测试成本,eFUSE被广泛的用于芯片的设计中,用来调整芯片的各项参数。本文主要介绍了一种采用eFUSE调节芯
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- 集成电路无损缺陷分析方法探讨
- 作者：方文潮; 来源期刊：电子质量 年卷号：2017,(06):99-102
- 摘要：集成电路失效/缺陷分析是可靠性分析的重要手段,目前的分析技术不能满足亚微米级集成电路无损分析需求。该文提出一种解决方案,利用弱磁探测技术无损绘制内部3维线路图和电流密度分布图,从而判断制作工艺是否存在缺陷,或者集成电路是否失效。被检测后的集
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