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| - 基于工艺参数扰动的IC参数成品率多目标优化算法
- 作者：李鑫;孙晋;肖甫;田江山; 来源期刊：电子学报 年卷号：2016,44(12):2960-2966
- 摘要：在芯片制造工艺中,参数扰动影响了集成电路(Integrated Circuit,IC)成品率,使不同参数成品率间存在着此消彼长的相互制约关系,而目前IC参数成品率优化算法却主要局限于单一优化目标问题.本文提出一种基于工艺参数扰动的参数成品率
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- 基于人工磁导体的芯片内_芯片间无线互连单极子天线传输特性研究
- 作者：杨曙辉;李邓化;陈迎潮;王文松;汪海鹏;... 来源期刊：电子学报 年卷号：2016,44(12):2861-2867
- 摘要：提出了一种新的用于芯片内/芯片间无线通信系统中的基于人工磁导体(Artificial Magnetic Conductor,AMC)结构的单极子管脚天线阵列模型.印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)采用厚度3mm
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- 微流控技术在生命分析化学中的应用进展
- 作者：张逢;高丹;梁琼麟; 来源期刊：分析化学 年卷号：2016,44(12):1942-1949
- 摘要：微流控分析系统与宏观条件下的分析体系相比,具有样品和试剂消耗小、传质传热效率高、生物相容性较好、高通量并行分析、功能单元集成化、微型化及自动化控制等特点,在分析化学尤其是生命分析化学领域得到了广泛应用。本文以涉及细胞的微流控技术为切入点,主
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- 基于Pareto支配的MPRM电路面积与可靠性优化
- 作者：卜登立;江建慧; 来源期刊：电子学报 年卷号：2016,44(11):2653-2659
- 摘要：针对MPRM(Mixed-Polarity Reed-Muller)电路的面积与可靠性折中优化问题,在逻辑级建立面积估算模型以及电路SER(Soft Error Rate)解析评价模型,并采用Pareto支配概念对MPRM电路进行面积与可靠
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- CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究
- 作者：陈晓娟;陈东阳;吴洁; 来源期刊：电子学报 年卷号：2016,44(11):2646-2652
- 摘要：为了表征CMOS反相器的可靠性,从其负载电流和输出电压的特性入手,详细推导了一种基于载流子波动理论的低频噪声模型,并由实验数据验证了模型的准确性.由实验结果可知,负载电流功率谱密度随频率的增加而减小,遵循1/f噪声的变化规律;得到了负载电流
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