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| - 新型时钟管理电路模型分析与参数设计
- 作者：程甘霖;王蕴龙; 来源期刊：电子测量技术 年卷号：2016,39(08):1-4
- 摘要：现今,电子产品的功能越来越复杂,随之而来在电路板设计中会选用多种类型芯片,比如微处理器、ADC、存储器、接口芯片等。这种情况下就需要时钟管理电路实现对多路时钟在频率、相位、占空比、抖动指标上的管理,为每种芯片提供不同属性的工作时钟。本文提出
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- 三电极差分电容式PCB用于通道内流体空隙率检测
- 作者：朱伟民;佟仕忠; 来源期刊：现代电子技术 年卷号：2016,39(07):130-133+137
- 摘要：为解决血管、输油管道等密闭通道内流体空隙检测问题,提出一种三电极差分电容式检测方法,该方法是基于电容器印刷电路板(PCB)进行设计实现。当空气泡等空隙存在于密闭通道时,传感器的电容会因此发生变化。基于此原理,利用差分电容放大器、锁相放大器、
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- 电源分配网络阻抗分析及去耦电容优化
- 作者：汪泉弟;王赢聪;高锋; 来源期刊：重庆大学学报 年卷号：2016,39(06):19-26
- 摘要：高速印制板电源分配网络(power delivery networks,PDN)受电电源端口具有瞬时电流大、目标阻抗小的特点。针对任意形状电源板的阻抗问题,提出一种基于解析式与有限差分法的互补模型,并在此基础上结合粒子群算法实现多个受电电源
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- 圆片测试中的熔丝修调方法研究
- 作者：高剑;赵影;李杰; 来源期刊：电子测量技术 年卷号：2016,39(06):15-19
- 摘要：熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展示了减小测试误差
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- 基于IDDT标准差和偏斜度的故障诊断方法
- 作者：熊波;潘强;文申平;王小东; 来源期刊：电子测量技术 年卷号：2016,39(05):163-166
- 摘要：以CMOS电路动态电流(IDDT)为研究对象,提出了一种针对IDDT测试信号数据的预处理方法。该方法从统计角度出发,通过计算故障电路IDDT的标准差和偏斜度得到故障特征。文中采用CMOS与非门电路进行仿真,将该方法与小波变换预处理方法进行对
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