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| - 基于预取和缓存原理的片上Flash加速控制器设计
- 作者：蒋进松;黄凯;陈辰;王钰博;严晓浪; 来源期刊：计算机工程与科学 年卷号：2016,38(12):2381-2391
- 摘要：为了提高片上Flash在嵌入式应用中的读取速度,提出了一种基于预取和缓存原理的片上Flash加速控制器。该控制器包括预取缓存和高速缓存两种加速方案。其中预取缓存方案采用位宽扩展和预取技术加速顺序指令的读取,并采用分支缓存存储非顺序指令,降低
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- 基于四值脉冲参数模型的单粒子瞬态传播机理与软错误率分析方法
- 作者：李悦;蔡刚;李天文;杨海钢; 来源期刊：电子与信息学报 年卷号：2016,38(08):2113-2121
- 摘要：随着工艺尺寸的不断缩小,由单粒子瞬态(Single Event Transient,SET)效应引起的软错误已经成为影响宇航用深亚微米VLSI电路可靠性的主要威胁,而SET脉冲的产生和传播也成为电路软错误研究的热点问题。通过研究SET脉冲在
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- “绑定中测试”“多绑一测”方式对于测试过程的影响
- 作者：秦振陆;方芳;王伟;朱侠;郭二辉;任福继... 来源期刊：计算机工程与科学 年卷号：2016,38(08):1602-1608
- 摘要：随着半导体工艺水平的不断发展,3D芯片技术已成为一大研究热点。"绑定中测试"环节的提出对于芯片的测试流程有了新的要求。但是,"绑定中测试""一绑一测"的特点会使部分裸片被重复测试,从而带来测试时间的增加。从"绑定中测试"的过程出发,协同考虑
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- 一种基于可重用激励发生机制的SoC验证平台
- 作者：苏艺端;虞致国;顾晓峰; 来源期刊：计算机工程与科学 年卷号：2016,38(07):1309-1315
- 摘要：在系统芯片的设计中,传统的激励发生机制耗费人工多且难以重用,严重影响了仿真验证的效率。针对此问题,构建了一种基于可重用激励发生机制的虚拟SoC验证平台。该平台利用可重用的激励发生模块调用端口激励文件,仿真时将端口激励文件转换成对应于验证电路
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- 专业学位研究生培养与职业衔接——以集成电路工程专业为例
- 作者：单伟伟;凌明;杨军;刘新宁; 来源期刊：电气电子教学学报 年卷号：2016,38(06):8-11
- 摘要：本文针对集成电路工程专业特点和需求,就专业学位研究生培养与职业衔接存在的问题,提出一种新思路--在原有的专业课程教学体系基础上,引入先进企业进行职业技能培训,结合研究生进入该企业实习,以及后续校企双导师共同指导课题研究和论文撰写,通过多层次
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