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| - CMOS数字IC管脚电容的估算与测量
- 作者：李兴鸿;赵俊萍;赵玉姣;刘利新; 来源期刊：电子产品可靠性与环境试验 年卷号：2016,34(06):1-6
- 摘要：针对CMOS数字IC管脚电容的测试问题,从标准规定、规范规定的角度进行了分析;利用最小阻抗通路法对管脚电容在各种偏置情况下的量值进行了估算;并结合LCR测量仪的测试原理,解释了与CMOS数字IC端电容测试相关的疑问,得出了电容只需简单测试即
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- 焊点热疲劳失效原因分析
- 作者：张伟;王君兆;邓胜良;马聪; 来源期刊：环境技术 年卷号：2016,34(05):71-74
- 摘要：某PCBA样品在使用约半年后出现功能失效,该PCBA在封装后进行整体灌胶,将失效样品剥离,发现部分器件直接脱落,通过表面观察、切片分析、EBSD分析、应力分析、热膨胀系数测试等手段对样品进行分析,结果表明:各封装材料存在热失配,且焊点缺陷较
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- 便携式数字芯片检测仪的设计
- 作者：毛露露;王刚;秦玉伟; 来源期刊：河南科学 年卷号：2016,34(05):702-705
- 摘要：针对高校科研和实验教学中数字芯片需要检测的问题,设计了一种新型便携式数字芯片检测仪.该检测仪通过单片机MSP430的可编程I/O给待测芯片输入引脚赋高低电平,并将输出引脚的结果与理论值进行比较,最终给出检测结果.该检测仪能对16脚以内74系
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- 基于OVM的可重用自动化验证平台
- 作者：杨小丽; 来源期刊：西安航空学院学报 年卷号：2016,34(05):60-64
- 摘要：介绍了OVM(Open Verification Methodology)验证方法学的基本概念和技术,从验证环境的体系架构、验证组件的可重用性和验证过程等方面进行详细说明,给出一个使用e语言实现的基于OVM的可重用自动化验证平台的实例。基于
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- CMOS IC失效机理与老炼频率的关系探讨
- 作者：李兴鸿;赵俊萍; 来源期刊：电子产品可靠性与环境试验 年卷号：2016,34(05):6-9
- 摘要：从老炼试验的原理、CMOS IC的失效机理和功耗等几个方面对CMOS IC的失效机理与老炼频率的关系进行了探讨。通过分析发现,动态老炼的效果与频率的高低的关系不大。希望此结果对老炼方案的编制和老炼试验的实施起到一定的参考作用。
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