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  • 一种带密勒补偿的带隙基准电压源
  • 作者:田磊;    来源期刊:河南科学    年卷号:2016,34(04):486-490
  • 摘要:设计了一款宽温度范围并带有密勒补偿的带隙电压基准电路,基准输出可通过内接电阻调节.该电压源以带隙基准电路为基本电路,扩展预偏置电路和输出缓冲电路.此电路基于0.35μm CMOS工艺,利用Cadence仿真工具进行验证,结果表明该带隙基准的

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  • 金属与玻璃封装集成电路小漏率检测技术研究
  • 作者:卢思佳;    来源期刊:电子产品可靠性与环境试验    年卷号:2016,34(04):39-43
  • 摘要:对金属-玻璃封装集成电路的小漏率检测技术进行了研究。首先,介绍了充压式氦质谱检漏法、破坏性内部气氛含量分析法和累积型氦检漏法的原理和流程;然后,分别利用这3种方法,对某试验样品的小漏率进行了检测;最后,根据试验结果,对3种方法的优缺点和适用

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  • 二代身份证阅读机具设计及EMI措施
  • 作者:吴思雄;张斌;屠黎娜;    来源期刊:环境技术    年卷号:2016,34(04):34-37
  • 摘要:二代身份证内芯片可通过机器阅读个人身份信息,进行统一管理。主要论述了二代身份证阅读机具的硬件和软件设计的基本原理,描述了研发中获得的实践经验。对设计中涉及到电磁兼容问题进行了分析与解决。

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  • 某中频控制器低温下输出异常的失效分析
  • 作者:桑宝岩;    来源期刊:环境技术    年卷号:2016,34(04):29-33
  • 摘要:近些年来,关于电子元器件的失效分析已逐渐发展成为一个专门的学科,作为专门的模拟集成电路设计、生产单位,在分析仪器、设备有限的条件下,通过失效分析发现产品设计、测试、以及生产制造过程中存在的问题,以不断改进产品的设计水平和制造工艺,提高产品的

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  • 微波集成电路的老炼试验技术
  • 作者:任俊华;赵鑫燚;王弘英;    来源期刊:电子产品可靠性与环境试验    年卷号:2016,34(03):61-64
  • 摘要:微波集成电路(MIC)是雷达和微波通信系统中的关键部分,其可靠性试验对于保证交付产品的质量具有重要的作用。老炼试验是可靠性筛选的关键一环,因而也是产品质量保证的重要手段。对MIC老炼试验技术进行了研究,并针对老炼夹具的设计、ESD与EMP防

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