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| - 考虑设计规则的引脚分配算法
- 作者：王雨田;贾小涛;蔡懿慈;周强; 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2016,28(11):2009-2015
- 摘要：详细布线是集成电路物理设计的关键步骤之一,引脚分配是影响详细布线质量和减少设计规则违反的关键因素,为此提出一种基于最小费用最大流的考虑设计规则的引脚分配算法.首先构建详细布线图和相应的网格图;然后在网格图上搜索布线区域内总费用最小的最大流,
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- 基于多阶段拆线重布的总体布线算法
- 作者：朱自然;陈建利;朱文兴; 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2016,28(11):2000-2008
- 摘要：超大规模集成电路总体布线是集成电路物理设计的关键环节之一,对芯片的可布线性、线长、通孔数等性能指标有重大影响.针对拆线重布方法容易陷入局部最优解的问题,提出一种基于多阶段拆线重布的总体布线算法.该算法根据不同布线阶段对最小化溢出值和最小化线
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- 利用整数存储无理数的测试数据编码压缩方法
- 作者：詹文法;梁华国;程一飞;吴海峰;朱世娟; 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2016,28(09):1605-1612
- 摘要：针对集成电路测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间,不能降低芯片测试成本的情况,提出一种整数存储无理数的测试数据编码压缩方法.首先将测试数据按游程长度划分,默认第1个游程长度为小数的个位,其他游程
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- 65nm工艺下单粒子加固锁存器设计
- 作者：黄正峰;钱栋良;梁华国;易茂祥;欧阳一鸣... 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2016,28(08):1393-1400
- 摘要：随着工艺尺寸的缩减,单粒子引发的软错误成为威胁电路可靠性的重要原因.基于SMIC 65 nm CMOS工艺,提出一种单粒子加固锁存器设计.首先针对单粒子翻转,使用具有状态保持功能的C单元,并且级联成两级;然后针对单粒子瞬态,将延迟单元嵌入在
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- 以太网芯片重离子单粒子效应试验
- 作者：夏加高;李文新;权昕;李泰国;赵彦荣; 来源期刊：强激光与粒子束 年卷号：2016,28(08):132-135
- 摘要：为评估和研究工业以太网芯片KSZ8851-16MLLJ在空间环境中的适应性,利用重离子源对芯片进行了单粒子试验。根据以太网芯片的结构和功能制订了单粒子实验方案,得出了实验数据,并对实验数据进行了整理和研究。实验和研究表明:工业以太网芯片KS
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