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| - 基于Viterbi的低功耗确定性测试方案
- 作者：陈田;易鑫;郑浏旸;王伟;梁华国;任福继... 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2016,28(05):821-829
- 摘要：随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻位之间的一致
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- 可透视电脑芯片的新技术
- 作者：高凌云; 来源期刊：现代物理知识 年卷号：2016,28(04):68
- 摘要：研究者研发出一种透视硅片的技术,除此之外还提供了一种探查电脑芯片微小制造瑕疵的强大工具。为了证明方法的有效性,研究小组将辐射模式投射到115微米厚的硅片上,这会临时性地使电子在这种通常的半导体材料内部流动。在拥有导电性后,硅对于太赫兹辐射是
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- 不同频率高功率微波辐照下PCB电路的混合模拟
- 作者：谢海燕;李勇;宣春;王建国; 来源期刊：强激光与粒子束 年卷号：2016,28(03):86-89
- 摘要：采用一个混合模拟方法研究计算了不同频率高功率微波(HPM)辐照下含有PIN限幅器的PCB电路上的耦合信号该混合模拟方法基于瞬态电磁拓扑和器件/电路混合模拟技术,实现了场、路、器件的混合模拟,能够模拟计算出HPM辐照下屏蔽腔内PCB电路上的耦
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- 基于专利计量的集成电路制造技术创新能力分布研究
- 作者：刘云;闫哲;程旖婕;谭龙; 来源期刊：研究与发展管理 年卷号：2016,28(03):47-54
- 摘要：通过建立集成电路制造技术领域分类体系,确定专利信息检索策略,对德温特专利数据库进行专利信息下载、清理,采用专利计量方法,分析了1974—2013年全球集成电路制造各技术领域专利的时间分布特征,探讨了各技术领域的创新发展趋势;通过"专利地位—
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- 片上系统高层等价性检验研究进展
- 作者：胡健;李暾;李思昆; 来源期刊：计算机辅助设计与图形学学报 年卷号：2016,28(03):371-380
- 摘要：针对近年来SoC领域的工作,首先分析了高层等价性检验的难点;然后从算法类型归类角度对各种高层等价性检验方法进行了概述评论,同时分析了各类算法的优缺点和现有算法的主要技术手段;最后讨论了SoC高层等价性检验方法目前面临的挑战,并对该领域今后的
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