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| - 银键合丝力学性能对键合质量的影响
- 作者：周文艳;陈家林;康菲菲;杨国祥;孔建稳;... 来源期刊：半导体技术 年卷号：2017,42(08):615-619
- 摘要：通过调节微合金元素的含量获得3种具有不同力学性能的银键合丝。利用拉伸试验、键合试验、焊线挑断力、焊球推力测试等手段,研究了银键合丝力学性能对键合质量的影响。结果表明,在延伸率相同的条件下,随着微合金元素含量的降低,3种键合丝的断裂负荷降低,
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- 基于GaN HEMT的13～17GHz收发多功能芯片
- 作者：张磊;付兴昌;刘志军;徐伟; 来源期刊：半导体技术 年卷号：2017,42(08):586-590+625
- 摘要：基于GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺设计制作了一款收发(T/R)多功能芯片(MFC),主要用于射频前端收发系统。该芯片集成了单刀双掷(SPDT)开关用于选择接收通道或发射通道工作,芯片具有低噪声性能、高饱和输出功率和高功率附加效率等
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- PFM开关电源集成电路的抗电磁干扰设计
- 作者：居水荣;王津飞;石径;张子豪; 来源期刊：半导体技术 年卷号：2017,42(08):579-585
- 摘要：针对脉冲频率调制(PFM)开关电源(SMPS)集成电路,提出了抗电磁干扰(EMI)设计的两种方法。通过采用零电流检测电路,控制开关电源集成电路中的开关金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)在第一个谷底导通,从而降低导通电流的尖峰值。通
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- 基于区域分割技术的硬件木马检测方法
- 作者：迟归鹏;于宗光;周昱;雷淑岚; 来源期刊：半导体技术 年卷号：2017,42(07):555-560
- 摘要：提出了一种基于区域分割技术的硬件木马检测方法,通过电路设计和检测相结合的方式,在电路内植入能生成多种测试向量的自测试模块,且不同测试向量可使目标区域电路内部节点在工作时具有高、低翻转率的差异,采用区域独立供电网络设计及门控时钟控制区域分时工
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- 凸点材料的选择对器件疲劳特性的影响
- 作者：刘建松;姚全斌;林鹏荣;曹玉生;练滨浩; 来源期刊：半导体技术 年卷号：2017,42(07):544-550
- 摘要：为了研究凸点材料对器件疲劳特性的影响,采用非线性有限元分析方法、统一型黏塑性本构方程和Coffin-Manson修正方程,对Sn3.0Ag0.5Cu,Sn63Pb37和Pb90Sn10三种凸点材料倒装焊器件的热疲劳特性进行了系统研究,对三种
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