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  • 基于嵌入式的IC芯片外观质量检测系统设计
  • 作者:陈文凤;张淼;欧幸福;李本红;    来源期刊:电子制作    年卷号:2016,(09):43-44
  • 摘要:为解决人工检测集成芯片引脚存在的诸多弊端,设计一套基于ARM-DSP双核结构的集成芯片引脚缺陷自动检测系统。采用阈值分割算法提取芯片引脚目标,通过灰度跃变检测引脚中心点,并统计引脚中点间距以识别芯片引脚缺陷;设计实现图像采集电路、图像处理电

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  • C8051F060单片机的AT24C1024芯片应用
  • 作者:雷文龙;    来源期刊:电子世界    年卷号:2016,(09):42+50
  • 摘要:本文介绍了I2C总线的原理以及2线制串行E2PROM存储芯片AT24C1024的时序结构,结合C8051F060单片机的特点,给出了单片机与存储芯片硬件连接结构及软件模拟I2C总线的程序设计。

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  • 测量系统分析在集成电路测试中的应用
  • 作者:王菲;傅铮翔;    来源期刊:电子质量    年卷号:2016,(09):30-35+38
  • 摘要:测量系统分析(MSA)是六西格玛管理的一项重要内容。在产品的质量管控中,高质量的测量数据,对产品的分析及改进有很大的帮助。在集成电路(IC)测试中,为了确保测试的准确性,获得高质量的测试数据,就需要对的测试系统进行充分的分析。该文介绍了测量

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  • 一次性可编程时钟发生器Omni Clock可提供最高设计灵活性和丰富功能
  • 作者:    来源期刊:电源世界    年卷号:2016,(09):29-31
  • 摘要:一次性可编程时钟发生器系列Omni Clock,为当前市场上任何可编程的时钟器件提供最多的功能和灵活性,介绍了Omni Clock系列的特性及设计优势。

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  • 中科大研制出半导体量子芯片
  • 作者:Scott;    来源期刊:今日电子    年卷号:2016,(09):29
  • 摘要:中国科技大学量子实验室已经成功研发了半导体量子芯片,而这款量子芯片研制成功就意味着可以实现量子计算机的逻辑运算和信息处理,这款半导体量子芯片已经在该实验室得到了展示,不过目前还不清楚这款量子芯片的具体信息。除了计算部分,该实验室的量子存储也

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