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| - 新型便携式布线测试仪设计
- 作者：邴冬梅; 来源期刊：电子质量 年卷号：2016,(03):23-25+35
- 摘要：该文介绍了一种新型的布线测试仪,主要针对部分一端有插接件,另一端为焊点的布线形式,该测试仪的使用提高了此类布线检测的可靠性和效率,在批生产线上应用得到了较好的效果。
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- 5nm生产线的挑战
- 作者：莫大康; 来源期刊：集成电路应用 年卷号：2016,(03):22-24
- 摘要：集成电路芯片的制造技术已经进入16/14nm时代,10nm甚至7nm时基本上可以使用现在同样的制造设备,似乎已无悬念。业界普遍认为5nm肯定是个坎,如果EUV光刻设备不能准备好,逼迫要采用五次图形曝光技术(FP)。另一方面,晶体管结构的创新
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- 智慧城市一卡通的新技术应用
- 作者：张少华; 来源期刊：智能建筑 年卷号：2016,(03):22-23
- 摘要：1概述近年来,一卡通作为智慧城市中应用最广泛的系统之一,已经发生了巨大的变化,并且快速探索着新的发展方向。作为智慧城市的缩影——智能建筑中门禁一卡通的发展可以说最具代表性,传统的基于ID或IC卡的单一门禁系统已经不能满足用户的需求,智能RF
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- 高速电路板的串扰问题分析及仿真
- 作者：王磊;刘博;侯世中; 来源期刊：科技创新与应用 年卷号：2016,(03):203
- 摘要：文章结合实例采用PADS中Hyperlynx仿真软件仿真电路,分析高速电路板布局、布线中产生串扰的原因及影响串扰的因素。通过模拟磁场的串扰图进行直观对比,并给出削弱串扰的各种有效方法。
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- 基于UVM实现高效可重用的SoC功能验证
- 作者：潘应进;龙恳; 来源期刊：电子世界 年卷号：2016,(03):180-183
- 摘要：通用验证方法学(UVM)融合了OVM和VMM两大验证方法学,使验证语言统一于SystemVerilog,验证方法学统一于UVM。在研究了UVM的基础上,重点研究了如何使用UVM搭建高效可重用的SoC验证平台。先进行模块级功能验证,再将模块级
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