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  • 一种低功耗高频小数频率综合器
  • 作者:汪瀚;黄鲁;孙利国;    来源期刊:微电子学    年卷号:2015,45(02):174-177
  • 摘要:采用SMIC 180nm CMOS工艺,设计了一款用于脉冲超宽带系统的锁相环型小数频率综合器。使用闪烁噪声抑制技术、感性峰化技术和动态反馈技术,分别对正交压控振荡器、预分频器以及电荷泵的性能进行了优化。测试结果表明,该频率综合器芯片能稳定工

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  • 一种可重构算子阵列结构的功耗评估方法
  • 作者:雍珊珊;王新安;谢峥;曹颖;    来源期刊:微电子学    年卷号:2015,45(02):153-156+163
  • 摘要:介绍了一种面向新型FPGA结构—可重构算子阵列的功耗评估方法。分析了可重构算子阵列结构的功耗构成,同现有的功耗评估方法进行对比,提出基于最大功耗的评估策略。可重构算子和互连单元采用自动测试矢量生成(ATPG)方法计算最大功耗,互连线段的功耗

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  • 一种新型低开关噪声低过冲CMOS缓冲器的设计
  • 作者:邓江;高兴国;    来源期刊:微电子学    年卷号:2015,45(02):149-152
  • 摘要:通过分析CMOS缓冲器过冲及开关噪声的原理,提出了一种新型的低过冲、低开关噪声的缓冲器。该缓冲器采用两种驱动级并联,降低了开关噪声。部分输出级晶体管采用缓冲器结构,控制了输出过冲。该缓冲器简单有效,不需要引入反馈结构。采用0.6μm CMO

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  • 成膜基板烧结异常的分析及改进
  • 作者:王尚智;赵丹;    来源期刊:宇航材料工艺    年卷号:2015,45(01):86-88
  • 摘要:某成膜基板在烧结后出现了析出透明物质的异常现象,严重影响了基板的键合强度。通过外观检查、SEM分析和能谱分析等手段,确定析出物为导体浆料中的玻璃相。分析结果表明,印刷厚度较厚是造成本次基板烧结异常的主要原因,但降低印刷厚度会对产品电性能产生

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  • 微系统技术创新发展策略研究
  • 作者:赖凡;王守祥;何晋沪;    来源期刊:微电子学    年卷号:2015,45(01):81-87
  • 摘要:简略论述了国际上重要公司微系统重点发展技术和策略,以及成为热点的3D集成技术及其主要开发联盟。初步探讨了我国微系统技术和产业创新发展策略,明确提出了建立以标准开发为目的的联合开发平台建议、重点开发的关键技术和微系统光电技术路线图。

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