|
| - DDS专用芯片静态参数测试方法研究
- 作者：刘路扬;张虹;张碚;吕兵; 来源期刊：计算机与数字工程 年卷号：2015,43(01):70-74
- 摘要：文章重点介绍了基于ATE设备的DDS专用芯片内嵌DAC静态参数的一种测试方法。由于DDS专用芯片的自身特点,其只能输出一定频率的正弦波,测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的,所以利用线性斜波电压测试D
-
- 一种考虑拥挤度的布线模型及其算法
- 作者：陈秀华; 来源期刊：福州大学学报(自然科学版) 年卷号：2015,43(01):47-53
- 摘要：为提高超大规模集成电路(VLSI)布线的布通率,加快布线速度,提出一种总体布线和详细布线交替进行的多级布线算法.在每一级布线中对局部线网进行总体和详细布线,增加总体布线和详细布线间的交互性,利用代价函数,使用多种策略来优化布线结果,得到更为
-
- 一种集成电路测试系统在线计量方法研究
- 作者：周厚平; 来源期刊：计算机与数字工程 年卷号：2015,43(01):36-38+132
- 摘要：论文介绍了一种通过对集成电路测试系统芯片测试过程中的电气参数进行测量的方式分析得到集成电路测试系统的指标准确度,从而实现对集成电路测试系统进行在线计量。该方法反映了集成电路测试系统测试过程中的实际工作状况,其计量结果具有更高的可信度,同时具
-
- 集成电路测试系统的竞争冒险
- 作者：顾翼; 来源期刊：计算机与数字工程 年卷号：2015,43(01):32-35
- 摘要：在集成电路测试领域,因客观存在的通道传输延迟而导致集成电路测试系统对交流参数测量准确度降低是不可避免的。尽管时域反射技术的应用在一定程度上解决了这一问题,但是仍然无法完全解决传输延迟所带来的所有问题。论文以泰瑞达J750EX集成电路测试系统
-
- 集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计
- 作者：刘倩;胡勇;李轩冕; 来源期刊：计算机与数字工程 年卷号：2015,43(01):29-31+69
- 摘要：在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在预期的时间范围
-
|