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| - 全球首款工业物联网SIP芯片在渝诞生
- 作者： 来源期刊：机械 年卷号：2015,42(04):32
- 摘要：3月26日,重庆邮电大学在重庆市经信委举办的2015云博会新闻发布会上,首次展示了全球首款工业物联网SIP芯片——CY2420S。该款芯片主要应用于工业自动化设备,帮助生产线实现无线智能化控制。SIP芯片——CY2420S是一款将信息交互与
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- 90nm CMOS工艺下电压触发的ESD检测电路
- 作者：杨兆年;刘红侠;朱嘉;费晨曦; 来源期刊：西安电子科技大学学报 年卷号：2015,42(03):54-60
- 摘要：提出两种90nm 1VCMOS工艺下电压触发的静电放电检测电路.电压触发的静电检测电路避免了纳米级工艺中的MOS电容栅极漏电问题.该检测电路包含一个反馈回路,提高了检测电路的触发效率,同时增加了反馈关断机制,在芯片工作时检测电路由于某些特殊
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- 具有服务质量保障的片上网络路由仲裁控制
- 作者：官铮;钱文华;杜长青; 来源期刊：计算机科学 年卷号：2015,42(02):55-59
- 摘要：片上网络(Network on Chip,NoC)通过仲裁机制控制各个端口间的数据交换。经典的RR(Round-Robin)算法保障了各端口间的公平性,但却难以为时延敏感业务提供具有低数据交换等待时延的QoS保障。为此,提出一种区分优先级并
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- PCB测试机的基本测试原理与方法
- 作者：熊霞; 来源期刊：时代农机 年卷号：2015,42(02):45-46
- 摘要：文章首先介绍PCB测试机系统组成,根据PCB测试机的基本原理即欧姆定理,采用先自检,再自学习,最后针对不同的检测要求,采用不同的测试方法,有两点间导通测试,两点间绝缘测试,及多点绝缘测试。测出被测点间是导通或者绝缘。
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- 一种基于FDR的高测试质量测试压缩方法
- 作者：尤志强;胡娜; 来源期刊：湖南大学学报(自然科学版) 年卷号：2015,42(02):109-113
- 摘要：FDR编码方法有效地降低了测试数据量,但其测试集中的无关位全部填充为0,平均每个测试向量检测的故障数目较少,测试质量较低.为了提高测试质量,并进一步提高测试数据压缩率,本文基于FDR方法提出了一种利用上一个测试向量的响应填充该测试向量中无关
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