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| - 90nm CMOS工艺下3×V_(DD)容限静电检测电路
- 作者：杨兆年;刘红侠;朱嘉; 来源期刊：西安电子科技大学学报 年卷号：2015,42(01):56-61+206
- 摘要：提出一种90nm 1.2VCMOS工艺下只用低压器件的新型3×VDD容限的静电检测电路.该电路利用纳米工艺MOSFET的栅极泄漏特性和反馈技术来控制触发晶体管并进而开启箝位器件(可控硅整流器),同时采用多级叠加结构以承受高电压应力.在静电放
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- 基于改进隐马尔科夫模型的电路板故障诊断算法的研究
- 作者：周金祖;史志才;曾国辉;王承宇;戴建; 来源期刊：化工自动化及仪表 年卷号：2015,42(01):51-53+57
- 摘要：基于改进隐马尔可夫模型提出了一种印刷电路板故障诊断新方法。首先建立在时域上相关的隐马尔可夫模型,然后引入遗传算法训练模型的参数,克服了传统算法的收敛速度慢、易陷入局部最优解和运算复杂等缺点。实验结果表明:改进后模型的故障预测准确率、收敛速度
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- 基于电学检验的电路板新旧程度判定方法
- 作者：刘扬东;张南峰; 来源期刊：计量与测试技术 年卷号：2015,42(01):4-6
- 摘要：针对进口旧机电产品单纯依靠人工外观检验效率较低、失误率大等问题,本文提出一种基于电学检验的电路板新旧程度的判定方法,该方法首先将电路板固定,并在预定焊盘处放置电信号检测探针;其次,设置检测电路,为电路板的焊盘两端提供激励,激励驱动电路板上各
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- 假冒翻新塑封器件鉴别的方法和程序
- 作者：周帅;彭泽亚; 来源期刊：中国测试 年卷号：2015,41(S1):120-123+129
- 摘要：针对塑封器件假冒翻新的常见手段及其对器件可靠性的危害,具体阐述鉴别假冒翻新的无损和有损两类主要分析鉴别方法,建立程序化鉴别流程。首先从塑封器件标志、定位标识、表面形貌、尺寸及质量等方面进行无损性外观分析,其次利用X射线、C-SAM声学扫描显
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- 浅谈印制电路板设计基础
- 作者：郭睿涵;张军元; 来源期刊：橡塑技术与装备 年卷号：2015,41(20):74-75
- 摘要：随着电力电子技术的快速发展,电子电路设计理念也在不断更新,本文主要分析了印制电路板的种类,阐述了在电子信息快速更新和发展的背景下,探究、分析印制电路板设计的重要性。根据印制电路板板层具体划分、PCB设计组件设计及印制电路板布局和布线原则,提
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