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| - 基于差错传播概率矩阵的时序电路软错误可靠性评估
- 作者：蔡烁;邝继顺;张亮;刘铁桥;王伟征; 来源期刊：计算机学报 年卷号：2015,38(05):923-931
- 摘要：在深亚微米及纳米级集成电路设计过程中,电路的可靠性评估是非常重要的一个环节.该文提出了一种基于差错传播概率矩阵(Error Propagation Probability Matrix,EPPM)的时序电路软错误可靠性评估方法,即先将逻辑门
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- 是德科技边界扫描分析仪全面提升测试效率和功能
- 作者： 来源期刊：电子测量技术 年卷号：2015,38(05):18
- 摘要：北京-是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布,测试与测量解决方案提供商Solution Sources Programming Inc.(SSP)应用Keysight x1149边界扫描分析仪(独立配置)或Keysight i3070在
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- 是德科技全新ADS PCI Express、USB一致性测试台解决仿真测量关联挑战
- 作者： 来源期刊：电子测量技术 年卷号：2015,38(05):144-146
- 摘要：北京―是德科技公司(NYSE:KEYS)日前发布先进设计系统(ADS)PCI Express和USB一致性测试台。新款解决方案可以帮助SerDes设计工程师完成对各种候选设计进行仿真到原型产品测量的完整工作流程。这种解决方案非常适合进行Se
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- 是德科技边界扫描分析仪提供改进的测试效率、覆盖范围和吞吐量
- 作者： 来源期刊：电子测量技术 年卷号：2015,38(05):143
- 摘要：北京-是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布,Solution Sources Programming Inc.(SSP)通过使用单机Keysight x1149边界扫描分析仪或与Keysight i3070在线测试系统搭配使用,已经在
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- 一种数模混合SoC的系统级后仿真验证平台
- 作者：胡小刚;赵琳娜;虞致国;魏敬和;顾晓峰; 来源期刊：电子器件 年卷号：2015,38(04):754-758
- 摘要：针对传统大规模数模混合So C后仿真验证过慢的问题,提出了一种数模混合SoC系统级后仿真验证平台。该平台充分利用主流EDA工具,在传统Verilog-cdl后仿真验证平台的基础上,将原本网表中耗时长的模块用Verilog模型替换,使用Ver
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