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| - 复用存储控制接口的高性能SoC测试结构
- 作者：娄冕;肖建青;张洵颖;吴龙胜;关刚强; 来源期刊：北京理工大学学报 年卷号：2015,35(05):500-505
- 摘要：为缩短SoC的测试时间并减少测试硬件开销,提出一种高性能SoC测试结构.通过重用存储控制逻辑作为测试接口,可以消除传统双向测试总线寄生的时间间隙,同时建立的流水化测试时序,避免了测试通道中引入的关键路径;针对功能和结构双重测试需求,复用片上
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- RNSS射频基带一体化芯片测试方法研究
- 作者：夏天;刘英乾;杨文彬;王田; 来源期刊：计测技术 年卷号：2015,35(05):49-51
- 摘要：随着卫星导航产业的快速发展,导航芯片成为民用卫星导航应用的核心竞争力。拥有诸多优势的射频基带一体化芯片是导航芯片发展的主流方向之一,本文依托某应用推广项目,对国产的该类芯片进行测试验证,通过不同模态下对其定位精度和跟踪灵敏度的考核,验证了芯
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- 兼容Mifare1功能的CPU卡芯片软硬件协同设计
- 作者：李鹏飞;谢雪松;万培元;靳佳伟;栗明;史... 来源期刊：固体电子学研究与进展 年卷号：2015,35(05):478-485
- 摘要：在研究非接触式IC卡标准ISO/IEC 14443以及M1卡技术规范的基础上,通过对CPU卡芯片以及通用M1卡的测试与研究,提出了软件模拟M1卡的方案,在CPU卡基础上实现M1卡功能。针对纯软件实现方案的不足,提出软硬件协同的方案,用加解密
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- 集成电路芯片温度依赖的PbSe量子点PL光谱研究
- 作者：王鹤林;张宇;刘文闫;王国光;张铁强; 来源期刊：光谱学与光谱分析 年卷号：2015,35(05):1169-1172
- 摘要：制备了3.6,5.1和6.0nm三种尺寸的胶体PbSe量子点,并对其光学特性进行实验研究。在室温条件下,实验发现小尺寸胶体PbSe量子点的光致发光光谱随温度升高发生红移;大尺寸胶体PbSe量子点的光致发光光谱随温度升高发生蓝移。以PbSe量
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- 在片S参数测量系统校准技术研究
- 作者：吴爱华;孙静;刘晨;梁法国;郑延秋; 来源期刊：宇航计测技术 年卷号：2015,35(05):11-16
- 摘要：在片S参数测量系统在半导体行业裸芯片测量中得到了广泛的应用,但是国内在片S参数测量系统无法有效溯源的现状影响了高端裸芯片产品的研发进度。为了建立该类系统的校准能力,本文研制了微带形式的在片校准件、在片传递标准件和在片检验件三类标准样片,搭建
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