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| - IP测试壳的量子蚁群优化
- 作者：杨刚;颜学龙; 来源期刊：微电子学与计算机 年卷号：2015,32(10):155-158
- 摘要：针对片上系统(SoC)的IP核扫描链分配问题,提出量子蚁群算法对SoC测试壳(Wrapper)进行优化,以有效地解决陷入局部最优解的问题,快速地寻找扫描链的最佳分配方式,从而缩短最长扫描链,减少单个IP核的测试时间.以ITC'02Test
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- 一种低功耗亚阈值CMOS带隙基准电压源
- 作者：邢小明;李建成;郑礼辉; 来源期刊：微电子学与计算机 年卷号：2015,32(10):151-154+158
- 摘要：提出了一种新型的低功耗亚阈值型CMOS带隙基准电压电路.该电路在不增加工作电源电压的情况下具有低功耗、低温度系数和高可靠性的优越性能,采用TSMC 0.18μm工艺仿真实现.该设计电路由MOS管、双极型晶体管和电阻组成,并且所有MOS管均工
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- IEEE1149.7标准两线星型扫描格式研究
- 作者：杨轲;颜学龙; 来源期刊：微电子学与计算机 年卷号：2015,32(10):147-150
- 摘要：针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了
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- 一种变游程编码的X位填充压缩方法
- 作者：颜学龙;熊杰超; 来源期刊：微电子学与计算机 年卷号：2015,32(10):134-136+142
- 摘要：解决数据容量大的问题是当前SOC测试中的一个主要挑战.对此提出了一种基于无关位填充的变游程编码测试数据压缩方案,该方案利用变长到变长的编码方式对任意长度游程进行编码.理论分析和实验结果表明:该填充方法在不增加测试功耗的同时,能取得较高的压缩
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- 一种基于In-Situ AVS技术的低功耗处理器实现方法
- 作者：王敏;秋攀;乔树山;杨浩;李江涛; 来源期刊：微电子学与计算机 年卷号：2015,32(10):12-16
- 摘要：为了进一步降低ARM Cortex M0处理器的功耗,提出了一种基于In-Situ AVS(Adaptive Voltage Scaling)技术的低功耗电路实现方法.该方法通过电路的路径延时估算出监测窗口大小(ΔT)和电压调整的错误(pr
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