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| - 一种用于测试数据压缩的改进型EFDR编码方法
- 作者：邝继顺;周颖波;蔡烁;皮霄林; 来源期刊：电子测量与仪器学报 年卷号：2015,29(10):1464-1471
- 摘要：针对集成电路测试中测试数据量过大的问题,提出一种改进型EFDR编码压缩方法。该方法保留了原EFDR编码中可同时对0游程和1游程编码的优点,同时将相邻组别游程的编码长度之差缩减为1位,使游程的编码长度更符合游程在实际测试数据中的出现频率,提高
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- 基于时空冗余的容软错误锁存器设计
- 作者：黄正峰;申思远;彭小飞;闫爱斌;鲁迎春; 来源期刊：电子测量与仪器学报 年卷号：2015,29(09):1310-1319
- 摘要：随着集成电路工艺尺寸的不断降低,电路对空间辐射引起的单粒子效应越来越敏感。为了提高电路的可靠性,基于时间和空间冗余技术提出了一种高性能的容软错误锁存器DSH-CG。该锁存器包括两个内部冗余模块和一个由C单元与保持器组成的输出级,不但可以过滤
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- 基于故障粒度划分的NoC链路自适应容错方法
- 作者：欧阳一鸣;王悄;梁华国;易茂祥;黄正峰;... 来源期刊：电子测量与仪器学报 年卷号：2015,29(08):1102-1113
- 摘要：No C中数据包的传输需要经过链路,且链路占据了芯片上的绝大部分面积,故对链路的容错尤为重要.为解决链路的故障问题,该文将链路故障进行粒度划分,并提出了一种自适应的链路容错方法.当链路出现粗粒度故障时,重配置另一条链路的方向来传输数据包.当
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- 是德科技支持联发科技最新移动芯片组的生产测试解决方案
- 作者： 来源期刊：电子测量与仪器学报 年卷号：2015,29(06):934
- 摘要：新版本将帮助移动终端客户缩短制造环节中的测试时间并降低测试成本是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布与联发科技公司携手推出基于Keysight E6640 EXM无线测试仪的适用于Media Tek MT6735移动芯片组的最新生产测试
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- 片上可重构阵列容错方法研究
- 作者：宋保强;王友仁;张砦; 来源期刊：电子测量与仪器学报 年卷号：2015,29(06):830-836
- 摘要：设计了一种具有容错能力的可重构阵列,它以2D-Mesh型片上网络(Network-on-Chip,No C)路由器作为互连单元,以精简指令集的处理器为计算单元,这种结构适用于数字信号处理等应用领域。对于阵列互连结构中的瞬态故障,采用三模冗余
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