|
| - 基于边界扫描技术的MACRO测试语言应用及分析
- 作者：王凤驰;陈常青;李正东; 来源期刊：电子科学技术 年卷号：2015,02(04):470-474
- 摘要：MACRO测试语言作为边界扫描测试基础上的延伸,继承了边界扫描测试的优点,同时更具灵活性。对于LVDS传输、特殊存储器等,在现有边界扫描测试无法直接用模型解决的情况下,MACRO测试填补了这一空白。文中对MACRO测试的程序设计方法、适用条
-
- 多层厚铜电路板层压质量改善探讨
- 作者：石学兵;陈春;范思维;唐宏华; 来源期刊：电子科学技术 年卷号：2015,02(03):268-273
- 摘要：针对多层厚铜板层压工艺中常见的层间偏移、层压白斑及板厚均匀性差等问题进行分析,本文采用板边流胶槽替代阻胶点,为层压时销钉、铆钉定位提供足够的支撑强度,有效预防层间错位;层压时增加硅胶垫并在铜箔表面辅助环氧垫板,改善层压白斑的同时控制板内有铜
-
- 伺服驱动器强弱电布线规则(二)——EMI与PCB布局布线规则
- 作者：陈亚辉; 来源期刊：伺服控制 年卷号：2015,(Z2):32-35
- 摘要：PCB板布线,其实是一项系统性较强的工作,并且有多方面的综合性比较强的要求,不光是PCB的布线美观,结构紧凑,最为关键的一点还是信号的抗干扰处理。在高频信号多的情况下,容易产生很多的电容耦合;在工作模块多的情况下,容易产生电感耦合;并且如果
-
- 带隙基准源专利技术
- 作者：张晓琳;陈婷; 来源期刊：中国科技信息 年卷号：2015,(Z2):151-152
- 摘要：基准源是能够提供高精度和高稳定度基准量的电源,是ADC、DAC、传感器、VCO等很多模拟电路、数字电路以及数模混合电路中非常重要的功能模块,基准源的性能直接决定了电路性能的优劣。1971年Robert Widlar首先提出了应用带隙来实现输
-
- 基于UVM验证方法学的RF基带模块验证
- 作者：何冬明; 来源期刊：今日电子 年卷号：2015,(Z1):79-82
- 摘要：引言验证最基本的目的在于测试被测对象DUT的正确性,其最常用的方法就是给DUT施加各种不同的激励,并观测DUT的输出结果,把此结果与期望值相比较,判断DUT正确与否。近年来,随着集成电路设计向超大规模发展,芯片验证工作变得越来越复杂和困难,
-
|