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  • PCBA R0402电阻气泡工艺改善研究
  • 作者:高海林;    来源期刊:电子测试    年卷号:2015,(21):117-119
  • 摘要:简述PCBA电子装联回流焊接工艺过程中RO402电阻气泡(void)产生的机理,叙述了气泡产生的一些原因,以及为了预防和减少气泡应当采取的措施。文章对出现气泡后如何进行分析、改善提供了方法上的建议和参考。

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  • 微电子工艺可靠性的影响因素及提升措施研究
  • 作者:杨亚非;    来源期刊:电子测试    年卷号:2015,(20):70-71
  • 摘要:可靠性是关系产品质量的重要部分。在IC生产环节,微电子工艺的可靠性起着决定性的作用。本文在对微电子工艺可靠性进行简要阐述基础上,指出了研究微电子工艺可靠性必须注意的三个基本出发点,并从原材料控制、设备与工艺控制、环境洁净度控制等方面探讨了提

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  • 集成电路低功耗测试技术研究
  • 作者:商进;    来源期刊:黑龙江科技信息    年卷号:2015,(20):46
  • 摘要:针对测试过程中集成电路芯片测试功耗过高的问题,简要分析了集成电路芯片测试技术的现状,对国内外相应的测试方案进行了探讨,并对各种方案的优缺点进行了总结。

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  • 微电子技术的发展与应用研究
  • 作者:李彦林;    来源期刊:电子制作    年卷号:2015,(20):36
  • 摘要:微电子技术的发展,大大推动了众多电子科技产业的迅猛发展。如今世界,随着信息时代的来临,全球各国的信息产业飞速发展。芯片作为储存、处理、加工信息的载体,对信息产业的发展发挥着重要的作用。制造芯片的技术,正是微电子技术,因此,在当今的信息时代,

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  • 高速电路设计中的信号完整性研究
  • 作者:朱园园;    来源期刊:电子技术与软件工程    年卷号:2015,(20):36
  • 摘要:通过对高速电路特点的介绍,讨论了高速电路中影响信号完整性的因素。针对这些问题,提出了解决措施。

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