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| - 质量分析装置及离子迁移率分析装置
- 中文摘要：反射电极(7)具有相同的圆柱体形状为圆柱形辅助电极6 : 设有向前方喷出的雾状流的ESI电离探针(5)；使进口端(8)的热毛细管(8)之间的空间延伸至两个电极(6，7)。辅助电极(6)和制热毛细管(8)作为接地电位和施加直流电压具有相同极性的测定对象离子的反射电极(7)。作为结果，反映样品组分衍生的反射电场离子和带...
- 申请日：2015-1-22 申请号：：WOJP15051622
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- 质谱分析装置
- 中文摘要：在本发明中，调整装置，电磁阀(37)打开时，由汽化的气体全氟三丁胺，其存储在容器(35)被抽吸到离子源(31)。引入的气体的量取决于环境温度，从而将检测到的信号值也不受环境温度的影响。因此，环境温度修正系数之间的关系通过实验预先确定的实际信号值和预先存储在存储部(44)。在实际调整时，一种环境温度采集单元(43)读...
- 申请日：2015-1-21 申请号：：WOJP15051516
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- 所述chromatiographic质谱仪及质谱仪
- 中文摘要：所要解决的问题 : 多个物体或化合物定性和定量时，另由参考目标化合物不影响离子能够可靠地确定质谱仪。解决手段 : 在质谱仪中，每个多个化合物，所述化合物产生的离子的质量/电荷比有关的信息的方法。含有。信息存储在存储部(41)，多个化合物中，定量或定性的指定多个对象的对象的方法。化合物。指定的输入接收部42接收输入，...
- 申请日：2015-1-21 申请号：：JP2015009242
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- 一种高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜、制备方法及应用
- 中文摘要：本发明属于质谱成像领域，具体涉及一种高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜、制备方法及应用。本发明所述高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜，通过如下方法制备得到：称取半导体纳米颗粒，首先置于马弗炉中灼烧，进一步用玛瑙研钵磨细，使其分散均匀，得到半导体纳米粉末；最后将半导体纳米粉末置于压片机中压制得到半导体薄膜。本发明...
- 申请日：2015-1-21 申请号：：CN201510030221.8
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- 离子源、离子枪和分析仪器
- 中文摘要：本发明提供一种离子源、离子枪和分析仪器，能够进行溅射而不损伤样品表面，提高质谱检测灵敏度。 在离子源中，供给电离液的发射开口设置在由提取电极在真空环境中形成的电场中，使得从发射开口产生超大液滴簇离子。 当用超大液滴团簇离子束照射样品时，样品表面经受溅射而不损坏，以去除污染物质或暴露样品的新表面。 在质谱学中，提高了...
- 申请日：2015-1-20 申请号：：US14600338
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