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| - 一种用于气体分析的质谱法，其中带电粒子源和带电粒子分析器都偏离偏转透镜的轴线，导致基线信号偏移减小
- 中文摘要：提供了一种装置、方法和系统，用于禁止从带电粒子源到分析器的视线，并用于改变分析器的输出光谱的基线偏移。 带电粒子的供给被引导通过相对于带电粒子源和分析器定位的偏转透镜的中空体。 沿着通过偏转透镜的优选流动路径的流动路径允许离子从源通过到检测器，同时禁止在平行于偏转透镜的中心纵轴的方向上从检测器到源的视线。
- 申请日：2011-6-8 申请号：：US13155896
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- 辅助的纳米颗粒的纳米级分子成像质量的spectrometery
- 中文摘要：用于质谱法被描述的方法和设备，具体来说，本发明使用的纳米颗粒注入作为一个矩阵用于二次离子和更通常的二次颗粒。一个光子束源或一束源可以使用纳米颗粒的解吸源或一个初级离子\/主粒子源。
- 申请日：2011-6-8 申请号：：WOUS11039646
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- 质量光谱仪与光束扩展器
- 中文摘要：本发明公开了一种质量光谱仪TS包括一个RF限制装置(6)，一束扩展器(7，9)和一个战斗的时间质量分析仪。所述光束扩展器(7，9)被设置到扩展离子射出的光束从所述RF限制装置(6)，从而使所述离子束(10)被扩展以至少约3的直径在所述正交加速度提取所述的飞行时间质量分析器的区域。
- 申请日：2011-6-7 申请号：：CA2802135
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- 质量光谱仪与光束扩展器
- 中文摘要：本发明公开了一种质量光谱仪TS包括一个RF限制装置(6)，一束扩展器(7，9)和一个战斗的时间质量分析仪。所述光束扩展器(7，9)被设置到扩展离子射出的光束从所述RF限制装置(6)，从而使所述离子束(10)被扩展以至少约3的直径在所述正交加速度提取所述的飞行时间质量分析器的区域。
- 申请日：2011-6-7 申请号：：WOGB11051068
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- 基于并行处理的质谱峰列表计算技术
- 中文摘要：描述了用于处理数据的技术。 执行样本分析，生成数据扫描。 每个扫描包括一组数据元素，每个数据元素将离子强度计数与多个维度相关联，所述多个维度包括保留时间维度和质荷比维度。 分析扫描以识别一个或多个离子峰。 分析包括过滤第一多个扫描，产生第一多个经过滤的输出扫描。 所述过滤包括产生第一过滤输出的第一过滤，其中所述第一...
- 申请日：2011-6-7 申请号：：US13702169
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