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| - 离子迁移率用离子光学漏极
- 中文摘要：样品分析系统包括用于从样品分析系统中去除残留离子的离子去除机构。 离子去除机构可以包括在离子光学组件中，该组件将离子迁移率过滤器连接到质量分析器。 可将待由样品分析系统分析的样品输入到离子迁移率过滤器中。 离子迁移率过滤器过滤样品的离子，并将过滤的离子组传递到离子光学组件。 离子光学组件将经过滤的离子组输送到质量分...
- 申请日：2010-3-12 申请号：：US12722863
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- 质谱分析用聚焦分析物喷雾发射装置和方法
- 中文摘要：本发明公开了一种将沉积在基底上的分析物输送到质谱仪的装置和方法，所述质谱仪提供复杂有机分析物的痕量分析。 使用在两个毛细管之间的交界处形成的一小滴溶剂来探测分析物。 供给毛细管维持基板上的溶剂液滴； 收集毛细管收集从表面解吸的分析物，并将分析物离子作为聚焦喷雾发射到质谱仪的入口进行分析。 本发明能够有效地分离解吸和...
- 申请日：2010-3-11 申请号：：US12722257
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- 离子化单元，用于一质谱仪，和对应的泄漏检测器
- 中文摘要：本发明涉及一种离子化单元，用于一质谱仪(2)，包括 : 一个电离壳体(10)包括一第一和一第二电子输入槽(11，26)和一个其具有一输出侧(16)的凹槽(15)用于通过电离的粒子(14a，14b，14c)穿过其中，一第一工作的灯丝(13)相对放置的所述第一的电子输入槽(11)。和要被提供给产生一个电子束(12)，和...
- 申请日：2010-3-10 申请号：：WOFR10050407
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- 测定痕量铁的光化学蒸气发生-原子光谱分析法
- 中文摘要：测定痕量铁的光化学蒸气发生-原子光谱分析法，包括铁的光化学蒸气发生及其引入原子光谱仪进行检测的过程。该方法不同于传统的气动雾化进样，而是在紫外光的辐射下，甲酸与铁离子在水溶液中直接反应生成铁的化学蒸气(即羰基铁)。产生的羰基铁被载气载入原子光谱仪，原子荧光光谱分析仪(AFS)，电感耦合等离子-原子发射光谱/质谱仪(...
- 申请日：2010-3-9 申请号：：CN201010120677.0
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- 一种双源质谱系统
- 中文摘要：一种双源的质谱仪系统(10)是可操作在一个第一模式与一LC源[LC\/MS](12)和在一个第二模式与一GC源[GC\/MS](18)。GC源输入到一个离子源室(22)，用于传送所述离子化的输出从所述GC源以所述的质谱仪。GC源包括一个GC接口探针(30)，其是可伸缩地连接到所述离子源腔室到采用GC接口中的探针从一...
- 申请日：2010-3-8 申请号：：CA2753739
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