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| - 一种基于离子漏斗的垂直式单光子电离的电离源
- 中文摘要：本发明涉及质谱分析仪器，具体说是一种基于离子漏斗的垂直式单光子电离的电离源，其具体结构包括，VUV灯、电离源腔体、样品分子进样管、推斥电极、传输电极、汇聚电极、离子漏斗和Skimmer差分电极。本电离源通过垂直放置VUV灯可有效避免光化学电离，并结合离子漏斗的优越聚焦性能，增强了离子传输效率，大大提高仪器的灵敏度。
- 申请日：2022-7-20 申请号：：CN202210858300.8
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- 一种光电元器件加工用离子注入系统
- 中文摘要：本发明公开了一种光电元器件加工用离子注入系统，包括底板，所述底板的顶部焊接有壳体，底板的顶部外壁通过螺栓连接有安装架，安装架的一侧外壁通过螺栓连接有质量分析仪，质量分析仪的一侧外壁通过螺栓连接有离子源，质量分析仪的底部外壁通过螺栓连接有加速机构，安装架的一侧外壁通过螺栓连接有反应罩，反应罩的底部设置有升降板，升降板...
- 申请日：2022-7-20 申请号：：CN202210854332.0
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- 一种用于质谱仪的真空系统
- 中文摘要：本实用新型涉及生物质谱仪技术领域，公开了一种用于质谱仪的真空系统，包括底板和设置在所述底板上的真空腔体、分子泵、隔膜泵，所述真空腔体、所述分子泵和所述隔膜泵通过管路依次连通，所述隔膜泵通过固定板与所述底板连接，所述隔膜泵与所述固定板之间设有第一减震装置，所述固定板与所述底板之间设有第二减震装置，通过二级减震，从而大...
- 申请日：2022-7-20 申请号：：CN202221917223.0
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- 实时薄膜厚度测量装置
- 中文摘要：本发明涉及一种薄膜厚度测量装置。 该薄膜厚度测量装置可以包括：在其中进行薄膜沉积的反应室； 质谱仪，用于测量所述反应室中的气态副产物； 以及计算单元，用于基于由质谱仪测量的数据计算薄膜厚度。
- 申请日：2022-7-19 申请号：：WOKR22010522
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- 一种高效、低本底硅胶发射剂及其制备方法
- 中文摘要：本发明公开了一种高效、低本底硅胶发射剂及其制备方法，包括以下步骤：首先将高纯水和四氯化硅分别置于两个试剂瓶中密闭，然后采用连接管将两个试剂瓶连通反应收集产物；之后对产物纯化，即将离子交换树脂加入到收集的产物中静置2?3d后去除离子交换树脂，重复操作1?3次，最终去除离子交换树脂得到硅胶发射剂。四氯化硅与高纯水反应形...
- 申请日：2022-7-19 申请号：：CN202210849646.1
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