|
| - 校准的质量光谱测定法系统和方法
- 中文摘要：一种用于校准一质量光谱测定法系统的方法和装置在其锁质量离子被引入到所述运输一种质量光谱仪间歇地在一个脉冲的方式的区域和分析物离子和\/或锁质量的离子被然后检测在所述质量分析仪。在一个实施例中，分析物离子是还引入到所述质量光谱仪所述的输送区域从所述分析物离子源间歇地在一个脉冲的方式。
- 申请日：2007-2-14 申请号：：GB0702851
-
- 激光诱导硅微柱阵列的激光解吸电离和肽序列测定
- 中文摘要：本发明提供了一种制造激光图案化硅表面的方法，特别是用于激光解吸电离(LDI-MS)的硅晶片(包括MALDI-MS和SELDI-MS)，包含该表面的器件，以及使用该表面的测试样品的方法。 通过在处理环境(例如水下)中使硅衬底经受来自高功率皮秒或飞秒激光器的多个激光照射来制备表面，并且产生能够为LDI-MS提供改进的衬...
- 申请日：2007-2-14 申请号：：US11674671
-
- 离子迁移谱仪装置和方法
- 中文摘要：一种离子迁移谱仪包括保护壳体。 具有至少一个入口和至少一个出口的漂移管限制漂移气体。 所述漂移管中设置有离子栅。 所述离子栅极在所述漂移管中限定反应区和漂移区。 一离子检测器位于漂移区一端的离子栅极下游的漂移管中。 在漂移管周围设置螺旋电阻丝线圈。 电源在螺旋电阻丝线圈中产生电场，该电场快速控制漂移气体的温度。
- 申请日：2007-2-13 申请号：：US11674646
-
- 检测器的X-辐射或γ
- 中文摘要：本发明涉及所述检测器用于所述放射成像，和更具体地，所述矩阵的X-射线检测器，进行在所形成的一个像素的矩阵的技术CMOS，具有一个相关联的结构的X-射线转换成电子。每个像素包括一个读出电路包括在所述一个手一比较器(COMP1)的摆动在每个到达一负载产生的增量从所述集成的一个充电电流产生的照明和在所述其它手一个电路的计...
- 申请日：2007-2-13 申请号：：FR07001032
-
- 离子迁移率光谱仪装置和方法。
- 中文摘要：一种离子迁移率光谱仪包括一个保护外壳。漂移管包括一螺旋形电阻线线圈限制在一个漂移气体中的离子。所述漂移管还包括至少一个入口和至少一个出口，用于通过所述漂移气体。一离子门位于所述漂移管中限定一反应区和一个漂移区域在所述漂移管。一个离子检测器被定位在所述漂移管下游的所述离子门在一个端部的所述漂移区。一螺旋形电阻线线圈是...
- 申请日：2007-2-13 申请号：：CA2642099
-
|