|
| - 质量光谱仪
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种装置，其中多个测量的是由可能要进行通过将多个的平行离子源中进行，以一个质量光谱仪和通过进行快速切换该离子源的。溶液 : 在所述质量光谱仪到导向该离子源中产生的离子和以进行质谱分析，它具有一个偏转装置以偏转从所述多个离子源的离子，和从至少所述多个的离子源之间的一个离子源，以继续进行到所述的...
- 申请日：2004-7-8 申请号：：JP2004201279
-
- 颗粒质量光谱仪用于检测纳米粒子和方法。
- 中文摘要：气载颗粒被除去从气溶胶通过一多级分子束源系统。在所述高真空部分所述粒子的质量光谱仪，所述粒子束飞行通过一个偏转电容器具有一个可变电场。所述带电粒子被分离的部分根据动能的极性和比能量和电荷。所述带电颗粒达到所述电荷检测器或电荷检测器，例如法拉第杯，和分别产生一电流或电压信号，它是按比例相乘，关系到所述捕获的图中，通过...
- 申请日：2004-7-7 申请号：：WOEP04007415
-
- 质谱仪
- 中文摘要：一种方法搜索潜在的未知明公开了一种药物化合物的代谢物。所述药物化合物的准确的质量通常已知的，并且可被呈现在所形成的整数标称质量或质荷比的组分和小数质量或质荷比的组分。可能的代谢物的基础上，搜索具有小数的质量或质荷比的组分，基本上非常相似的小数质量或质荷比母体药物化合物。
- 申请日：2004-7-5 申请号：：GB0415046
-
- 用于同位素签名和质量分析系统和方法
- 中文摘要：质量强度值，同位素之间的同位素比率和精确的质量差异可以获得和分析以确定是否存在被一个或多个感兴趣的质量。在一个实施例中，所述质量之间的一种方法将查找用于感兴趣的峰强度值。该质量强度值，代表同位素的签名，将被比较以一标准中，以便确定其所述质量体的被感兴趣的。虽然本发明不局限于此，这种标准的例子包括质量强度值上方的一个...
- 申请日：2004-7-2 申请号：：WOUS04021248
-
- 半导体激光受激原子的探针表征和介电结构
- 中文摘要：一激光受激原子探针用于原子探针本发明公开了一种半导体材料的介电和低电导率成像。所述激光受激原子探针包括一个常规的原子探针提供一种场发射尖端和离子检测器装置; 一激光系统提供一激光短激光脉冲和同步的电子定时信号到所述原子探针，和一个光学系统用于传送所述激光束到所述场发射尖端的顶点。该传统的原子探针是采用一种类似的方式...
- 申请日：2004-7-1 申请号：：WOUS04021291
-
|