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| - 质谱仪系统
- 中文摘要：一种便携式质量光谱仪系统被描述。该系统包括一种质谱仪装置结合在一真空室。所述室包括一可渗透膜位于所述的质谱仪装置和一个入口端口之间以所述腔室。位于所述膜和所述入口端口之间是一个阀。所述阀是提供在一个常闭状态，并具有一开放状态，使得，在使用，所述采用本发明所述打开状态允许所述的流的所述样品到所述室通过所述膜和接触与该...
- 申请日：2004-2-12 申请号：：GB0403122
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- 使用脉冲萃取离子源提高分辨率和质量范围的飞行时间质谱仪
- 中文摘要：提供了一种用于提高微型飞行时间质谱仪(TOF-MS)中激光解吸离子的收集效率的微型飞行时间质谱仪(TOF-MS)和方法。 所述方法提供由TOF-MS内的电离提取装置产生的激光脉冲； 将样品板电位保持在地电平约50ns的固定延迟周期； 并用高压开关将样品板电位大幅度提高到10kV/mm。
- 申请日：2004-2-10 申请号：：US10486473
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- 一个样品制备板，用于质谱
- 中文摘要：摘要这里所公开的是使用一个样品制备板，以制备样品用于质谱分析。特别是，使用的样品板以浓缩物样品以及作为去除污染物从所述样品，同时提供易于操作的一个表面上的小液滴与最小样品的损失。
- 申请日：2004-2-10 申请号：：WOUS04003890
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- 吸附，检测，和识别环境空气的成分的硅上具有解吸\/电离质谱法(dios-MS)
- 中文摘要：本发明提供了一种装置，系统，和相关联的方法，以主动或被动样品空气通过引导到所述表面的一多孔的光吸收半导体，例如，一个多孔硅上解吸\/电离(“dios”)芯片。在吸附的一种分析物，该表面可以被分析直接通过激光解吸\/电离的时间--飞行质谱分析。由于所述的激光解吸\/电离过程和随后的质量检测不要求升高的温度下，分析物的...
- 申请日：2004-2-9 申请号：：WOUS04003719
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- 利用硅上解吸附/电离质谱(DIOS-MS)吸附，检测和鉴定环境空气组分
- 中文摘要：本发明提供了一种通过将空气引导到多孔光吸收半导体(例如，多孔硅(“DIOS”)芯片上的解吸附/电离)的表面上来主动或被动地采样空气的装置，系统和相关方法。 在吸附分析物时，可以通过激光解吸/电离飞行时间质谱法直接分析表面。 因为激光解吸/电离和随后的质量检测过程不需要升高的温度，所以避免了分析物的热降解。
- 申请日：2004-2-9 申请号：：US10545332
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