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| - 质谱仪
- 中文摘要：1．本外观设计产品的名称：质谱仪；2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于对待分析的样品的分子片段进行分析，以进行样本的鉴定及结构测定等。3．本外观设计产品的设计要点：设计1的设计要点在于产品的形状；设计2的设计要点在于产品的形状及色彩。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：设计1立体图。5．请求保护的外...
- 申请日：2018-7-26 申请号：：CN201830407715.8
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- 进入多通道质谱分析仪的离子注入
- 中文摘要：具有正交加速器的经改进的多程飞行时间或静电阱质谱分析仪(70)，其适用于基于镜像的多反射(MR)或多回转(MT)分析器。正交加速器(64)倾斜，并且在第一次离子反射或回转之后，通过补偿偏转器(40)将离子包向回偏转相同的角度α，以补偿时间前沿转向和色角分散。偏转器(40)的焦距由松田板或用于在偏转器中产生四极场的其...
- 申请日：2018-7-26 申请号：：CN201880051306.6
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- 多通道质谱仪加速器
- 中文摘要：提出了用于多通道飞行时间质谱仪的改进的脉冲离子源和脉冲转换器，所述多通道飞行时间质谱仪或者是多反射(MR)或者是多匝(MT)TOF。 楔形静电场(45)设置在小离子能量区域内，用于电控离子包(54)的时间前倾斜。 时间前缘(54)的倾斜角r在平坦场(48)中被后加速强烈放大。 后加速(48)下游的静电偏转器(30)...
- 申请日：2018-7-26 申请号：：WOGB18052105
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- 用于半导体结构质量评估的检验系统及检验流程
- 中文摘要：检验系统(1)用于鉴定半导体结构。 所述检查系统具有离子束源(2)，用于利用离子束(3)空间分辨地曝光待检验的结构。 进一步地，提供了包括质谱仪(13)的二次离子检测装置(12)。 质谱仪(13)能够测量给定带宽中的离子质荷比。
- 申请日：2018-7-25 申请号：：DE102018212403
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- 一种单晶硅挠性加速度计的密封方法
- 中文摘要：本发明公开一种单晶硅挠性加速度计的密封方法，包括首先将加速度计的壳体和伺服电路模块焊接为一体，再将小圆片焊接在伺服电路模块上，之后通过利用小圆片上的充气孔充入氦气，将充气孔封死后，利用氦质谱检漏仪对最终状态的加速度计进行检漏。采用本发明的方法对加速度计进行密封，密封快速便捷、可靠性高，并通过充氦气利用惰性气体的特性...
- 申请日：2018-7-24 申请号：：CN201810823223.6
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