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| - 质量分析装置和方法
- 中文摘要：本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，在不使装置大型化的情况下，提高包含第二材料的第一材料的检测精度，缩短测定时间。 一种质量分析装置，用于分析样品，所述样品包含第一材料和至少一种第二材料，所述第一材料包含有机化合物，所述第二材料包含有机化合物并具有与所述第一材料的质谱峰重叠的质谱峰，所述质量分析装置包括 : ...
- 申请日：2018-7-20 申请号：：US16041679
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- 用于能量存储装置的堆叠
- 中文摘要：一种方法包括获得用于能量存储装置的堆叠200，所述堆叠包括一个或多个层202-208。 使用激光束216激光烧蚀堆叠，以形成穿过一个或多个层的切口212，并产生一个或多个激光烧蚀产品210。 使用包括质谱仪219的分析器220来分析激光烧蚀产物，以确定堆叠的一个或多个特性。 激光烧蚀的位置，例如激光烧蚀的深度，可以...
- 申请日：2018-7-20 申请号：：GB1811879
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- 质量分析装置和质量分析方法
- 中文摘要：本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，能够目视且清楚地识别难以分析的辅料的存在。 一种用于质量分析的装置，分析包含待测物质的样品，该装置包括 : 显示单元； 存储单元，存储通过相对于物质的质谱区域的计算获得的理论峰值； 匹配度计算单元，从区域中的样品的质谱和理论峰中的每一个具有的多个峰计算匹配度； 匹配度显示控...
- 申请日：2018-7-20 申请号：：US16041675
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- 质量分析装置和质量分析方法
- 中文摘要：公开了一种质量分析设备和方法，其中在不扩大设备的情况下提高了包括第二材料的第一材料的检测精度，并且减少了测量时间。 一种用于分析样品的质量分析装置，所述样品包含第一材料和至少一种第二材料，所述第一材料包括有机化合物，所述第二材料包括有机化合物并且具有与所述第一材料的质谱峰重叠的质谱峰，所述质量分析装置包括峰校正单元...
- 申请日：2018-7-20 申请号：：US16041679
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- 一种质谱纳升电喷雾离子源化学背景降噪仪
- 中文摘要：本发明涉及一种质谱纳升电喷雾离子源化学背景降噪仪，包括空气净化室，所述空气净化室内部设置有电晕放电组件，所述电晕放电组件侧面还设置有杂质过滤膜，将其中杂质化合物，包括但不局限于聚乙二醇，邻苯二甲酸正丁酯，聚硅氧烷类化合物过滤掉，过滤后的空气被二次引导至纳升离子源电离处，替换掉源区较“脏”的空气，从而降低背景噪音，在...
- 申请日：2018-7-20 申请号：：CN201810808817.X
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