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| - 质谱仪中同量异位干扰的确定
- 中文摘要：提供在质量分析期间在质谱仪中确定同量异位干扰的方法。所述方法包括比较化学物种的无干扰反应分布与可包括同量异位干扰的所述相同化学物种的反应分布，其中所述分布之间的差异的确定指示存在同量异位干扰。还提供对同量异位干扰进行定量的方法，包含校正在存在同量异位干扰的情况下确定的同位素比率的方法。
- 申请日：2017-12-11 申请号：：CN201711308681.8
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- 选通元件的离子迁移质谱仪
- 中文摘要：本发明涉及一种用于开关或门元件调制的离子迁移质谱仪中的离子流，特别是在微型(ims)离子迁移率光谱仪在大气压力下操作，其中所述离子流的离子源具有连续调制功能的调制和迁移谱从所测量的离子电流的相关性分析，产生与调制模式。本发明提出使用一种分层板的小孔(多孔板)而不是网格栅(或串联)，所述有孔板，包括至少三个导电和两个...
- 申请日：2017-12-11 申请号：：GB1720623
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- 电感耦合等离子体质谱仪的进样装置
- 中文摘要：本实用新型涉及一种电感耦合等离子体质谱仪的进样装置，包括进样针、移送机构与升降机构。移送机构用于将装设待检测溶液的容器移送至进样针的下方。升降机构用于驱动进样针升降动作，以使得进样针能插入至容器内。上述的电感耦合等离子体质谱仪的进样装置，直接将装设待检测溶液的容器放置在移送机构上，由移动机构将容器移送至进样针的下方...
- 申请日：2017-12-11 申请号：：CN201721713394.0
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- 一种用于半导体工艺腔室和气体管线的TOF MS气体质量分析监测系统
- 中文摘要：本发明涉及半导体工艺腔室及气路气体TOFMS气体质量分析监控系统， 更具体地，公开了与半导体工艺气体过程分开的TOF MS半导体工艺室气体管线监测(飞行时间质谱仪时间A)，用于管理半导体工艺室和均匀TOF MS气体质谱分析监测系统的气体管线气体。
- 申请日：2017-12-11 申请号：：KR1020170169018
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- 电感耦合等离子体质谱仪的自动进样装置
- 中文摘要：本发明涉及一种电感耦合等离子体质谱仪的自动进样装置，包括进样针、移送机构与升降机构。移送机构用于将装设待检测溶液的容器移送至进样针的下方。升降机构用于驱动进样针升降动作，以使得进样针能插入至容器内。上述的电感耦合等离子体质谱仪的自动进样装置，直接将装设待检测溶液的容器放置在移送机构上，由移动机构将容器移送至进样针的...
- 申请日：2017-12-11 申请号：：CN201711310601.2
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