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| - X射线光谱仪定量分析方法。
- 中文摘要：本发明的目的是通过使用各元件的激励电子束的最佳加速电压来测量特征X射线强度，并使用该加速电压来执行ZAF校正计算，从而获得精确的分析结果。 组成：MIN。 在ZAF校正操作中包含元件的激励电子束加速电压和实际激励电子束加速电压作为算术因子。 然后，将实际激励电子束加速电压设定为各组成元件的最佳值。 最小值。 激励电...
- 申请日：1989-6-24 申请号：：JP01161745
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- 离子注入装置
- 中文摘要：目的 : 以避免MIS电容器中存储的电荷，并以防止所述绝缘膜的击穿由于通过安装一个光源到充电到一离子注入装置和具有光照射所述MIS电容器具有所述的能量高于所述工作功能接口的一个半导体衬底和所述绝缘膜。构造 : 离子是通过一种离子源1产生的和希望的离子被选择的一种质量光谱仪2在所述离子源1的引出离子，和所选择的离子被...
- 申请日：1989-6-19 申请号：：JP01156470
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- 质量光谱仪
- 中文摘要：目的 : 以获得一个大的量的分析数据通过一短时间内提供一放电电极在一thermospray离子源室和翻转所述开\/关电压施加到所述放电电极在一高的速度和执行质量扫描同步关系中的所述电压到所述的开\/关操作。结构 : 所述thermospray细管3连接到所述柱的液相色谱仪中的LC被插入一thermospray离子源...
- 申请日：1989-6-16 申请号：：JP01155492
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- 用于该企业过程的质量光谱仪。
- 中文摘要：本发明公开了一种等离子体离子源质谱仪，其包括：离子源，其中待检测样品在等离子体中被电离；以及质谱仪，其对从离子源供应的电离样品进行质量分离和检测， 其特征在于，设置有气体导入装置，用于将含有能够与从离子源供给的粒子中所含的背景离子发生电荷转移反应的粒子的气体或含有能够与从离子源供给的粒子中所含的背景离子发生电荷转移...
- 申请日：1989-6-9 申请号：：DE3918948
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- 质量光谱仪
- 中文摘要：目的 : 以进行定性分析和定量分析在一短时间由浇注在一个时间; 通过进行定性分析通过使所述的离子加速吹扫一个磁场中的速度恒定电流，同时进行所述定量分析通过改变所述离子加速度在一特定速度恒定电流值在上述吹扫。结构 : 在扫描磁场电流在一个定性分析，一种计算机13保持所述电流值恒用于从所述条件的一个小的下一特定时间比所...
- 申请日：1989-6-9 申请号：：JP01147467
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