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| - 低剖面光谱分析系统
- 中文摘要：一种可用作光谱仪或单色仪的光谱分析系统，包括在外壳内的折叠光路，其中在光谱焦场的一侧提供光输入，在相反侧提供光输出，从而分离光和电功能。 折叠的光路设置在外壳的竖直延伸部分内，为光学仪器提供狭窄的轮廓，并使入口孔和出口孔保持在非常接近的直线上。 该反射棱镜具有第一倾斜表面和第二倾斜表面，该第一倾斜表面和第二倾斜表面...
- 申请日：1988-3-2 申请号：：US07162907
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- 探头的改进的用于光谱测量磁谐振在非常高的温度。
- 中文摘要：该探头的特征在于，将激光辐射集中在谐振器(3)内的样品(9)上作为加热装置， 作为绝热装置，在整个测量过程中，所述样品悬浮在谐振器(3)的内部体积中。 本发明对于磁共振光谱仪的制造者来说是有意义的。 “图像”
- 申请日：1988-3-1 申请号：：FR88002740
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- 异物检查装置
- 中文摘要：目的 : 以执行所述外来的观察对象与所述相同的形状和所述高灵敏度分析装置在一个短时间与良好的可操作性通过切换一束从一混合从所述的电子到所述离子束源; 确定所述所述二次电子的电流量，和所述的二次离子质量分析。结构 : 该散射的光从一晶片11通过所述激光束的辐射和扫描从一个激光振荡器13接收到的是通过一散射的光检测装置...
- 申请日：1988-2-29 申请号：：JP63044382
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- X-射线微分析仪分析方法。
- 中文摘要：目的 : 得到准确的分析结果，通过计算X射线强度比为相同元件根据 X射线强度的至少两个频谱特定的X射线例如使用Cu-Kα射线， Kβ射线，和Lα-Lβ射线，并将该计算结果与预先设定的公差值，确定所述差。 构成 : 在分析样品的10， X射线强度的至少两个特定特定的X射线的X射线通过X-射线可分离 光谱仪12a和12...
- 申请日：1988-2-17 申请号：：JP63035688
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- 电子自旋共振光谱仪
- 中文摘要：本发明公开了一种电子自旋共振光谱仪，其中由半导体材料等制成的样品在被施加磁场和微波的同时被光照射，以基于在样品上出现的光感生电压或样品的微波吸收引起的微波强度的降低来检测由于样品的光照射部分中的缺陷引起的电子自旋共振。
- 申请日：1988-2-8 申请号：：US07153092
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