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| - 片上集成光谱仪及电子设备
- 中文摘要：本申请公开了一种片上集成光谱仪及电子设备，所述片上集成光谱仪包括：芯片基底，具有第一表面；位于所述第一表面的探测器阵列，所述探测器阵列包括多个光电探测器，不同所述光电探测器具有不同的波长探测范围；位于所述第一表面的分光系统，所述分光系统用于将入射所述分光系统的光线分为多束与所述光电探测器一一对应的子光束；所述子光束...
- 申请日：2022-2-24 申请号：：CN202220388971.8
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- 一种面向芯片实验室的拉曼光谱检测简化缩微方法
- 中文摘要：本发明公开了一种面向芯片实验室的拉曼光谱检测简化缩微方法，激光器发射的激光通过滤光片照射到微流控芯片的样品待检测区上；经过样品待检测区拉曼散射的光线经过滤光片组被光电探测器接收，经由信号处理电路进行数据采集并传输至终端设备。激光光源经过透过滤光片入射到待检测区的待检测样品介质表面，经过介质散射后的光向四周射出，含有...
- 申请日：2022-2-24 申请号：：CN202210184097.0
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- 片上集成光谱仪及其制作方法及电子设备
- 中文摘要：本申请公开了一种片上集成光谱仪及其制作方法及电子设备，所述片上集成光谱仪包括：芯片基底，具有第一表面；位于所述第一表面的探测器阵列，所述探测器阵列包括多个光电探测器，不同所述光电探测器具有不同的波长探测范围；位于所述第一表面的分光系统，所述分光系统用于将入射所述分光系统的光线分为多束与所述光电探测器一一对应的子光束...
- 申请日：2022-2-24 申请号：：CN202210176499.6
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- 差动迁移率光谱仪单元的动态加热
- 中文摘要：一种操作差动迁移率光谱仪(DMS)的方法，包括提供设置在DMS单元的陶瓷体附近的加热器。 第一控制电压被施加到加热器。 第一阈值由设置在基本上围绕DMS单元的幕板内的第一传感器检测。 至少部分地基于所检测的第一阈值将第二控制电压施加到加热器。 在施加第二控制电压期间，对DMS单元内的气体进行质谱分析。
- 申请日：2022-2-23 申请号：：WOIB22051606
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- 一种生长于透明基底的半导体薄膜材料吸收系数的优化计算方法
- 中文摘要：本发明公布了一种生长于透明基底的半导体薄膜材料吸收系数的优化计算方法。计算过程包括如下步骤：首先通过紫外?可见分光光度计对半导体电极进行紫外?可见吸收光谱和反射光谱的测试，然后利用反射光谱对测得的吸收值进行修正。接下来通过对吸收值进行Min?Max标准化处理使其更符合实际，最后利用吸收系数与吸收值的关系推导出纯半导...
- 申请日：2022-2-23 申请号：：CN202210165701.5
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