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| - 一种偏光片光学性能测量系统
- 中文摘要：本发明提供一种偏光片光学性能测量系统，其特征在于：沿光路方向依次设置有光源、准直镜、退偏器、起偏器、聚光镜和光电探测器，其中，光源为白色LED或者其他多光谱光源；所述准直镜用于将光源的发散光转为平行光；所述退偏器将射入其内的光过滤成完全非偏振光；所述起偏器为标准偏光片，设置于旋转平台上，可在旋转电机的带动下旋转任意...
- 申请日：2020-7-31 申请号：：CN202021566925.X
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- 一种基于云平台的智能紫外分光光度计
- 中文摘要：本实用新型涉及紫外分光光度计技术领域，且公开了一种基于云平台的智能紫外分光光度计，包括紫外分光光度计主体，所述紫外分光光度计主体的顶部设置有水平收纳滑槽，所述水平收纳滑槽的内部设置有电控盖板，且电控盖板与水平收纳滑槽滑动连接，所述电控盖板的下方设置有元件内槽，所述元件内槽的内部设置有检测室顶板，所述检测室顶板的下方...
- 申请日：2020-7-31 申请号：：CN202021562191.8
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- 使用空间光调制器的薄膜厚度和性能测量系统
- 中文摘要：一种使用根据本发明的空间光调制器测量薄膜的厚度和物理性质的系统，其特征在于包括： 空间光调制器，其中对离开光源的光进行空间调制，以便仅照射样品的特定区域； 第一分束器，其改变由空间光调制器调制的光的方向，并且从样品反射的反射光的一部分通过该第一分束器； 物镜，用于将由第一分束器折射的光聚焦到样品的特定区域上； 第二...
- 申请日：2020-7-31 申请号：：KR1020200096114
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- 一种荧光光谱仪
- 中文摘要：本实用新型提供了一种荧光光谱仪，涉及测量仪器技术领域。其中，包括荧光光谱仪本体和电源控制柜，电源控制柜安装在荧光光谱仪本体的上端，荧光光谱仪本体包括盖板、发生箱体、工作板、透射窗、探测器、X射线发生器、固定装置、移动装置和空腔。本实用新型通过设置防护罩，待测物可以在防护罩内发生检测，防护效果好，通过设置固定装置，可...
- 申请日：2020-7-31 申请号：：CN202021563779.5
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- 镜子夹
- 中文摘要：镜夹(30)， 特别是用于光学发射光谱仪的光学反射镜壳体中， 包括：本体(31)，其包括镜座部分；至少一个铰链构件(33)，其用于将夹子定位并附接到光学镜壳体；以及至少一个夹持构件(38)，其用于将镜夹子可释放地固定到光学镜壳体。 镜子(40)可容纳在镜子支座部分中。 所述至少一个铰接构件(33)可包括钩，以在所述...
- 申请日：2020-7-30 申请号：：WOEP20071462
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