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| - 光束对准方法以及电子显微镜
- 中文摘要：本发明提供一种光束校准方法，能够容易地对齐电子束的无彗差轴电子显微镜。该方法开始于在第第一方向上倾斜的电子束(EB)(+)相对于参考轴线(A)得到第一的TEM(透射电子显微镜)图像。然后，所述横梁上倾斜在第二方向(-X)相对于参考轴，第二方向(-X)在从第一基准轴线(A)相对侧(+X)方向，和第二获得TEM图像。所...
- 申请日：2017-3-7 申请号：：EP17159706
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- 扫描电子显微镜
- 中文摘要：扫描电子显微镜(1)包括可滑动真空密封件(20)之间的电子光学成像系统(2)，样品载体(10)与第第一板(22)具有第第一开口(24)相关联，所述光学成像系统并且抵靠第第二板(26)具有第第二孔(28)与所述样品载体相关联。板包括凹槽板第一和/或第二(40)第一和/或第二孔。扫描电镜可以包括检测器(8)可相对于所述...
- 申请日：2017-3-3 申请号：：WONL17050128
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- 与红外显微镜样品架和样品架
- 中文摘要：[问题]为了容易测量的红外显微镜的背景反射量的分析方法。样品架为[A]，移动式样品台的样品放置，所述样品台向所述源的红外光，所述反射光从样品台具有至少一个红外显微镜的样品台检测器，样品保持在放置。该样品架，光源发出的光作为测量基准面的背景反射部设置。图[图1]
- 申请日：2017-3-3 申请号：：JP2017040539
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- 定量非线性光学显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种非线性光学显微镜(12)，包括 : 贝塞尔激发激光束源(28)，用于激励测试样品(16)下，检测器(36)，用于检测所述发射的相干信号传输的待测样品(16)响应激发的激发激光束，和过滤器(38)置于待测样品(16)和检测器(36)，以防止检测器(36)从中检测所发射的信号的传输；所述测试样品(16)下...
- 申请日：2017-3-3 申请号：：WOEP17055058
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- 操作扫描探针显微镜的方法和装置
- 中文摘要：一种改进的AFM成像模式(峰值力抽头(PFT)模式)使用力作为反馈变量来减少针尖-样品相互作用力，同时保持现有AFM操作模式可实现的扫描速度。 样品成像和机械性能映射通过提高分辨率和高样品吞吐量来实现，该模式可在不同环境下工作，包括气体、流体和真空环境。
- 申请日：2017-3-3 申请号：：US15449584
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