|
| - 结构光显微镜，观察方法和程序
- 中文摘要：结构光显微镜位于其中。 (1)结构光显微镜[A]， (x)用于激发样品中所含荧光物质的激发光， 用干涉条纹照明光学系统(11)照射样品， 干涉条纹(41)，改变控制部的相位； 以及至少一个锁存检测部(35)，其在来自样本1的光的频率下，利用锁存检测部(40)生成至少一部分检测信号并生成样本。
- 申请日：2017-2-14 申请号：：JP2019500074
-
- 一种透射电子显微镜双倾样品台和铍样品台通用样品固定夹
- 中文摘要：本实用新型涉及一种透射电子显微镜双倾样品台和铍样品台通用样品固定夹，其主要特点是在样品固定夹的固定螺丝孔和样品压环之间采用索穹顶结构(F)，替代了现有的双倾样品台样品固定夹的平直设计(E)，解决了由于铍样品台承载样品区域周边凸起(G)而引起的，现有双倾样品台样品固定夹在铍样品台上不能固定样品的问题，实现了样品固定夹...
- 申请日：2017-2-14 申请号：：CN201720131995.4
-
- 荧光显微镜使用的SW，跳
- 中文摘要：本发明公开的感应发射亿使用荧光显微镜，荧光材料发出...[]激发束()对样品激发光中包含的，一种样品数(STED，受激发射损耗数量上百亿诱导发光单元发射的光激发射，亿，具女性仓上百亿感应发射导光单元上，并且包括一个取样点数的相互重叠的物镜透镜，一光检测光学单元从单元重叠样本图像，...[]磷光体或荧光体射出的多个发...
- 申请日：2017-2-14 申请号：：KR1020170020163
-
- 一种高速扫描隧穿显微镜测绝缘样品膜厚形貌缺陷的方法
- 中文摘要：本发明公开了一种高速扫描隧穿显微镜测绝缘样品膜厚形貌缺陷的方法，包括恒高模式扫描隧道显微镜系统及位于该恒高模式扫描隧道显微镜系统导电电极与导电针尖之间的电介质样品，当电介质样品的介电常数大于电介质样品与针尖间辅助电介质的介电常数、且所述的导电针尖与电介质样品间的相对扫描速度v≥2.26×1010
- 申请日：2017-2-13 申请号：：CN201710074930.5
-
- 相衬显微镜和成像方法
- 中文摘要：本发明提供一种相衬显微镜及其成像方法，其中，所述内液体的液面形状可估计无新的测量系统确定所述液体的表面形状。本发明具有 : 照明发光单元(10)，其发出的照明光进行相衬测量的，朝容器，其中液体和包含待观测物体；成像单元(40)拍摄的对象图像进行观察的照明灯声发射信号。一种调整光学系统(20)，其可调整照明光的折射导...
- 申请日：2017-2-13 申请号：：WOJP17005128
-
|